Schürer, Temperatur- und Aufstellungseinflüsse
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Temperatur- und Aufstellungseinflüsse
beim Präzisions-Stereokomparator PSK von Zeiss
Von Dipl.-Ing. Karl Schürer, Karlsruhe
(Aus dem Institut für Photogrammetrie und Topographie der Technischen Hochschule Karlsruhe)
1. Aufgabestellung
Die Firma Zeiss-Aerotopograph hat beim Londoner Kongreß der IGP im Jahre 1960 erstmals
einen neuen Stereokomparator der Öffentlichkeit vorgestellt und vor einiger Zeit die ersten Serien
geräte auf den Markt gebracht. Wie aus der ersten Veröffentlichung [1] über das neue Gerät her
vorgeht, war ein wesentlicher Grundgedanke des Konstruktionsentwurfes eine möglichst weit ge
triebene Unempfindlichkeit gegen Temperatureinflüsse. Das Temperaturverhalten des Geräts wurde
im Intervall zwischen +5° und +40°C untersucht, in einem Bereich also, der an seinen Grenzen für
länger dauernde Messungen gerade noch zuträglich ist. Gleichzeitig sollte überprüft werden, ob und
wie sich Schrägstellungen des Geräts auf die Meßergebnisse auswirken. Untersucht wurde eines der
ersten Seriengeräte mit Hilfe der Justiergitter Nr. 487 und 488 derselben Firma. Über die Justier
gitter lagen Eichprotokolle vor.
2. Meßprinzip und mögliche Temperatureinflüsse
Auf je ein Präzisions-Meßgitter (1) (Bild 1) mit 5 mm Maschenweite des symmetrisch gebauten
Gerätes wird das Meßbild (2) aufgelegt. Meßvorrichtung und Prüfling liegen im Kontakt. Nun
wird ein Ausschnitt von 15 mm Durchmesser aus Meßgitter und Meßbild in die praktisch gemeinsame
Ebene der Einstellmarke (3) und des Meßrechens (4) optisch abgebildet. Die Einstellung eines
Bild 1 Schema einer Hälfte des PSK. Zahlen
siehe Text! (Entnommen aus [1]).
Kupfer
Bild 2 Schaltschema der elektrischen Tem
peraturmeßeinrichtung. 1 ... 7 Ther
moelemente, 7 im Wassergefäß.
Punktes wird durch gemeinsames Verschieben von Meßgitter und Meßbild in der x-Richtung und
durch Verschieben eines Teiles der Optik in der y-Richtung vollzogen. Die genaue Lage der Einstell-
marke zu den Maschen des Meßgitters wird dann durch Verschieben des Meßrechens mit Hilfe der im
Verhältnis 1 : 30 untersetzten Hebel (5) festgestellt. Durch das unmittelbare Übereinanderliegen von
Einstellmarke und Meßrechen ist das Abbesche Komparatorprinzip hier ein zweites Mal erfüllt.
Allerdings geschehen Einstellung und Feinmessung nicht streng gleichzeitig. Der Zeitunterschied
beträgt rd. 12 bzw. 20 Sekunden für das rechte bzw. linke Bild. Das Abbesche Prinzip könnte durch
zeitliche Änderungen im Abbildungsstrahlengang innerhalb dieses Zeitraumes verletzt werden.
Anzeichen hierfür wurden nicht gefunden.
BuL 3/1964