Full text: Commissions II (Cont.) (Part 4)

Schürer, Temperatur- und Aufstellungseinflüsse 
166 
Temperatur- und Aufstellungseinflüsse 
beim Präzisions-Stereokomparator PSK von Zeiss 
Von Dipl.-Ing. Karl Schürer, Karlsruhe 
(Aus dem Institut für Photogrammetrie und Topographie der Technischen Hochschule Karlsruhe) 
1. Aufgabestellung 
Die Firma Zeiss-Aerotopograph hat beim Londoner Kongreß der IGP im Jahre 1960 erstmals 
einen neuen Stereokomparator der Öffentlichkeit vorgestellt und vor einiger Zeit die ersten Serien 
geräte auf den Markt gebracht. Wie aus der ersten Veröffentlichung [1] über das neue Gerät her 
vorgeht, war ein wesentlicher Grundgedanke des Konstruktionsentwurfes eine möglichst weit ge 
triebene Unempfindlichkeit gegen Temperatureinflüsse. Das Temperaturverhalten des Geräts wurde 
im Intervall zwischen +5° und +40°C untersucht, in einem Bereich also, der an seinen Grenzen für 
länger dauernde Messungen gerade noch zuträglich ist. Gleichzeitig sollte überprüft werden, ob und 
wie sich Schrägstellungen des Geräts auf die Meßergebnisse auswirken. Untersucht wurde eines der 
ersten Seriengeräte mit Hilfe der Justiergitter Nr. 487 und 488 derselben Firma. Über die Justier 
gitter lagen Eichprotokolle vor. 
2. Meßprinzip und mögliche Temperatureinflüsse 
Auf je ein Präzisions-Meßgitter (1) (Bild 1) mit 5 mm Maschenweite des symmetrisch gebauten 
Gerätes wird das Meßbild (2) aufgelegt. Meßvorrichtung und Prüfling liegen im Kontakt. Nun 
wird ein Ausschnitt von 15 mm Durchmesser aus Meßgitter und Meßbild in die praktisch gemeinsame 
Ebene der Einstellmarke (3) und des Meßrechens (4) optisch abgebildet. Die Einstellung eines 
Bild 1 Schema einer Hälfte des PSK. Zahlen 
siehe Text! (Entnommen aus [1]). 
Kupfer 
Bild 2 Schaltschema der elektrischen Tem 
peraturmeßeinrichtung. 1 ... 7 Ther 
moelemente, 7 im Wassergefäß. 
Punktes wird durch gemeinsames Verschieben von Meßgitter und Meßbild in der x-Richtung und 
durch Verschieben eines Teiles der Optik in der y-Richtung vollzogen. Die genaue Lage der Einstell- 
marke zu den Maschen des Meßgitters wird dann durch Verschieben des Meßrechens mit Hilfe der im 
Verhältnis 1 : 30 untersetzten Hebel (5) festgestellt. Durch das unmittelbare Übereinanderliegen von 
Einstellmarke und Meßrechen ist das Abbesche Komparatorprinzip hier ein zweites Mal erfüllt. 
Allerdings geschehen Einstellung und Feinmessung nicht streng gleichzeitig. Der Zeitunterschied 
beträgt rd. 12 bzw. 20 Sekunden für das rechte bzw. linke Bild. Das Abbesche Prinzip könnte durch 
zeitliche Änderungen im Abbildungsstrahlengang innerhalb dieses Zeitraumes verletzt werden. 
Anzeichen hierfür wurden nicht gefunden. 
BuL 3/1964
	        
Waiting...

Note to user

Dear user,

In response to current developments in the web technology used by the Goobi viewer, the software no longer supports your browser.

Please use one of the following browsers to display this page correctly.

Thank you.