Kommission II
Theorie, Methoden und Instrumente der Auswertung
Berichterstatter: Dr.-Ing. M. Ahrend, Oberkochen
Das Schwergewicht der Arbeit im Aufgabenbereich der Kommission II lag im
Berichtszeitraum in Deutschland in vielfältigen Untersuchungen vor allem
der Themen Orthophoto, Orthophotokarte, Orthoprojektor. Daneben sind vor
allem Themen grundsätzlicher Art, wie z.B. die Zweckmässigkeit der Auto
matisierung in der Photogrammetrie sowie Arbeiten über Testmethoden für
Instrumente hervorgetreten. Die Geräte bauende Industrie brachte in den
vergangenen vier Jahren u.a. die Geräte Planimat und Doppelprojektor DP1
heraus. Daß das Präsidium der Kommission II 1964 bis 1968 im deutschen
Bereich lag sowie daß in diesem Zusammenhang das Symposium der Kommission II
der Internationalen Gesellschaft für Photogrammetrie 1966 in Bad Godesberg
stattfand, befruchtete die Arbeit in Deutschland.
Aus der Menge der Veröffentlichungen sollen einige Themen herausgegriffen
werden:
Mit dem Orthophoto beschäftigten sich nicht weniger als 15 Arbeiten. Dabei
galten /2/, /4/» /42/ den instrumentellen Voraussetzungen, /52/, /41/ theo
retischen Überlegungen, /7/, /15/, /23/, /26/, /29/, /37/, /43/, /47/, /49/,
/54/ und /60/ dem Einsatz des Verfahrens, Untersuchungen über seine Genauig
keit oder der Beschreibung seiner spezifischen Eigenschaften.
Theoretische Untersuchungen und Ausgleichungsfragen enthalten die Arbeiten
/19/, /20/, /21/, /27/, /46/ und /48/- Zielsetzungen und grundsätzliche
Betrachtungen geben die Ausführungen in /1/, /8/, /12/, /14/, /28/, /40/, /44/,
/55/, /56/, /57/ und. /64/. Speziellen Verfahren der Auswertung gelten die
Ausführungen in /9/, /33/, /63/ (Benutzung elektronischer Rechenanlagen),
/15/, /16/ (Bauingenieurwesen und Straßenverkehr) /22/ (Überweitwinkelauf
nahmen), /24/ (Analytische Nahbildmessung), /31/, /38/ (Digitales Modell),
/61/ (Höhenbestimmung aus Radialabständen) sowie /39/ (Verfahren vom Stand
punkt der Einfachheit). Über Genauigkeitsuntersuchungen wird berichtet in
/3/, /10/, /11/, /25/, /30/, /36/, /62/, /65/.
Nahezu rein instrumentellen Themen gelten Untersuchungen über Prüfverfah
ren und Fehlerquellen (/17/, /58/) sowie die Abhandlungen /18/ (Leuchtdichte
und Auflösung), /34/ (Bildtrennung), /50/ (Radialkartiergeräte), /51/ (Tempe
ratureigenschaften), /53/ (Doppelprojektoren) und /59/ (Universalität).