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verständlich nicht korrekt sind und mit jedem Auswertegerät unter jeder an
deren Bedingung und mit einem anderen Auswerter, anders erhalten werden,
können. Ich möchte hierzu bemerken, dass ich also Versuche gemacht habe,
und hierin enthalten sind Ungenauigkeiten der Einfassung, und alle Fehler
quellen, die bis auf dem optischen Anteil auf das Gerät kommen. Ich will nicht
behaupten, dass diese Werte nicht genauer zu bekommen sind, ich hielte es
aber nicht für angebracht, ganz besonders extrem günstige Werte anzusetzen
und damit eine Bedingung zu schaffen, die bei praktischen Auswertearbeiten
kaum zu erreichen werden wird. Die Bemerkung, dass bei einer analytischen
x\rbeit und unter Ausschaltung des Auswertegerätes, nur Verwendung eines
Komparators diese vielen Fehler ausschaltet und damit das Verhältnis im ganzen
günstiger wird, das ist richtig, ich stimme es zu.
Le Prof. B. Hattert demande à M. Ahrend si l’on a, concurrement avec les mesures sous dépres
sion, effectué des mesures de parallaxes verticales. On pourrait en le faisant sur 9, 15 ou 25 points
d'une image plastique, avoir »l’erreur sur l’unité de poids» et la limite des sources d’erreur corres
pondant au procédé. A-t-on comparé, si on a fait ces recherches, les parallaxes verticales aux erreurs
dûes à la dépression? Cela devrait pouvoir se faire avec un appareil simple: stéréoscope à miroirs
avec mesureur de parallaxes. M. M. Ahrend répond qu’il n’a pas mesuré les parallaxes verticales
de façon indépendante. Les mesures au microscope ayant porté sur des bandes entières, on peut
en déduire les parallaxes, et de celles-ci, une corrélation des erreurs. Les parallaxes verticales sont
incluses dans le nombre donné (1.6). Dans le cas de très mauvaises conditions (—35° par ex.) on
pourrait avoir de fortes déformations régulières, presque identiques d’une photographie à l’autre,
et cette identité n’empêcherait pas les parallaxes d’être très fortes.
Answering a member of the audience who, like many others, did not give his name and fill a
speaker’s card, Mr. Ahrend says:
En ce qui concerne l’augmentation de la précision, les plaques Gevaert de 2 mm ont une
planéité à 20 microns près. Il est très difficile, en augmentant l’épaisseur jusqu’à 6 mm, d’obtenir
une planéité à 2 /u. Or, le développement de la couche et son séchage provoquent des défauts de
l’ordre de 50 microns. Les essais faits sur 2 plaques de 6 mm ont donné de tels défauts, mais plus
faibles (10 à 20 microns). Il n’y a eu que 2 essais. Deuxième question: la précision des appareils de
restitution. Le chiffre avancé de ± 5 /â est un ordre de grandeur particulier aux conditions d’expé
rience. La remarque sur la meilleure précision que l’on obtiendrait en éliminant l’appareil de
restitution et en procédant à un travail analytique à partir de données obtenues au comparateur
est valable.
M. J. Cruset: Quand on parle de la planéité des plaques, il faut que Ton
précise bien s’il s’agit de la distance entre le creux le plus profond et la bosse
la plus saillante, exprimée sous la forme d'une planéité de tant de microns, ou
d'écarts de ces mêmes points par rapport à un plan moyen, exprimés sous la
forme + ou — tant de microns. Lorsqu’on entend parler de plaques d’une pla
néité de 25 microns, dans une discussion, dans un article ou dans du courrier,
on ne sait jamais si l’on veut parler de -f- ou — 25 ou de + ou — 12.5. Le photo-
grammètre doit également résoudre la question suivante: est-ce l’écart maxi
mum entre points extrêmes, pouvant être éloignés sur la plaque qui l’inté
resse le plus, ou bien est-ce une variation locale et rapide, une sorte de gradient
de la planéité?
Mr. Cruset states that in connection with flatness of plates, it is necessary to precise whether
the distance between the deepest hole and the highest bump is to be expressed by a flatness of so
many microns, or the distance from these points as compared to an average level, expressed in -j- or
— so many microns. It is impossible to know, in a discussion on plates with a flatness of 25
microns, whether-f or — 25, or + or—12.5. A photogrammetrist also has to answer the following
question: is he mainly interested in the maximum difference between extreme points which may
be far away from each other on the plate, or in quick localized variations, a sort of flatness
gradient?
Mr. B. J. Attwell: I should like to ask Herr Ahrend something about his
work on films. Unfortunately I have been unable to study the English trans
lation of his paper: so the question may already be answered for me, but I
would like to know, whether in his work, he has used cut film or he has done
his measurements on a roll of film. We have found, that distortion measure
ments on cut film are useful as a control for the manufacturer to check varia
tions from batch to batch. But for the photogrammetrist it is necessary to