Inhaltsverzeichnis 
Seite 
] Rinlitung N, a PS A LS 
2. Das allgemeine parallaktische Schema SRA, RRL Lag ON id 
3. Die Herleitung der allgemeinen mathematischen Formel für die Berechnung 
der Polygonseite S=AB . . . . . S S. SE o LEY 2) UB 
4. Die Ableitung der mathematischen Formel für die verschiedenen Schemas 
der parallaktischen Feinpolygonometrie -. . . . .…. . . ,, . +. 4 B 
5. Die Genauigkeit der parallaktischen Feinpolygonometrie . . . . . . . . . 20 
6. Die praktische, geodátische und photogrammetrische Anwendung von ver- 
schiedenen Schemaarten der parallaktischen Feinpolygonometrie. . . . . . 21 
7: JLeratur . . 24d. 20. VOS AC. Au ITO SUI Ing Qik, 1799 
1. Einleitung 
Die parallaktische Feinpolygonometrie hat in den letzten Jahren in verschiedenen 
Làndern, bei verschiedenen physikalisch-geographischen Verháültnissen mit direkter 
und indirekter Basismessung der parallaktischen Glieder einen ziemlich mannig- 
faltigen Anwendungsbereich gefunden. Jetzt versteht man unter parallaktischer 
Feinpolygonometrie ein indirektes Streckenmessverfahren unter Verwendung einer 
kurzen Querbasis. Ausserdem werden parallaktische Winkel beobachtet, unter denen 
die Basis von den Enden der abzuleitenden Linie aus erscheint, sowie die Brechungs- 
winkel und Anschlusswinkel des Polygonzuges. Die oben zusammengestellten Beob- 
achtungen genügen für die weitere Koordinatenberechnung des Polygonzuges. Die 
zu messende Linie samt der Basis sowie die diese Elemente verbindenden Konstruk- 
tionen bilden ein parallaktisches Glied. Zur Erhóhung der Genauigkeit wird in 
parallaktischen Gliedern praktisch nur selten eine zweite Grundlinie (Kontrollbasis) 
gemessen, weil dies eine ziemliche Verzögerung der Arbeit zur Folge hätte. Zur 
Kontrolle der Basismessung verwendet man statt der zwei unabhängigen Basen 
zweckmässiger benachbarte Basisdoppelmarken mit einem konstanten Marken- 
Achsenabstand von 20 cm. Eine derartige Doppelbasis ist in einem beliebigen, auch 
in einem symmetrischen Schema zu verwenden. Ein geringer, durch die Ermittlung 
einer dritten parallaktischen Richtung hinzukommender Zeitaufwand wird reichlich 
durch die höhere Genauigkeit, sowie durch eine gute Kontrolle des Zuges kompen- 
siert. Die bis zum Jahre 1949 ausgearbeiteten Verfahren, Methoden und deren 
Untersuchungen sind in drei Hauptrichtungen entwickelt und zwar: 
a) Für kleinere Entfernungen von 40 m bis höchstens 100 m, die bei den Zentrie- 
rungen in der Triangulation verwendet sind. 
b) Für mittlere Entfernungen von 60 bis 250 m, mit Verwendung von Doppel- 
bild-Entfernungsmessern in der Polarkoordinatenmethode sowie in der paral- 
laktischen Feinpolygonometrie. Der relative Fehler beträgt 1 :5000 bis 1: 10000. 
3