Full text: Commissions I and II (Part 4)

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Der Lichtpunkt wird mittels der üblichen Betátigungselemente im Geláündekoordinaten- 
system nach x, y und z bewegt. Die Lochblenden B sind, abgesehen von der b x- Einstellung, 
fest angeordnet. Die Photoelemente P stellen sich, angetrieben von Nachlaufmotoren, in den 
Bildkoordinateneinrichtungen x', y', x" bzw. y" jeweils genau zentrisch auf den durch L und B 
gebildeten Lichtlenker ein. Starr verbunden mit den photoelektrischen Empfángern P sind 
die jeweiligen Endglieder der Betrachtungsoptik M. Okular O und Diapositiv D sind zum 
Verständnis angedeutet. 
Der räumliche Strahlengang der Aufnahme wird also wiederhergestellt durch eine optische 
B — P. Unter Anhaltung der 
  
Anordnung, námlich den Lichtlenker oder optischen Lenker L 
  
  
Abb.2. Prinzipielle Anordnung. 
üblichen Unterteilung photogrammetrischer Geräte ist alsodas optische Prinzip ausgeführt. 
Die Verbindung zwischen Aufpunkt, Projektionszentrum und Bildpunkt bildet aber nicht 
gleichzeitig — wie bei diesem Prinzip sonst üblich — den Betrachtungsstrahlengang, außerdem 
fehlen Objektive, Spiegel oder dergleichen. Das optische Prinzip wird also als reine Licht- 
steueru ng angew andt. 
Der Nachlauf der Photoelemente wird ausgelóst durch den bei Lichteinfall entstehenden 
Photostrom. Nach entsprechender elektronischer Verstárkung dient er zur Aussteuerung des 
Nachlaufmotors, der seinerseits das Photoelement so lange verstellt, bis der durch die Differenz- 
schaltung (s. u.) gegebene zentrische Einlauf erreicht ist. Unter Hinzuziehung der bei hohen 
Anforderungen notwendigen Dämpfungsglieder ist damit ein geschlossener Regelkreis 
mit Rückführung verwirklicht. Seine Elemente: Strahler, photoelektrischer Empfänger, 
Verstärker, Stellglied und Regelstrecke sind heute übliche Begriffe der Regelungstechnik. 
Die Nachlaufgenauigkeit solcher Anordnungen kann je nach dem Nutz-Rauschverhältnis 
(vor allem abhängig von der zugeführten Energie und der Wahl des Fühlers) sehr weit getrieben 
werden. In [2] werden Werte bis zu 0,015 Micron bei der Untersuchung von Maßstäben an- 
gegeben. Neben den vielfältigen Steuerungsanwendungen in derindustriellen Regelungstechnik 
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