24 STEREOPHOTOGRAMMETRIE IN DER MIKROSKOPIE, AUTHOR'S PRESENTATION
vielleicht die Verhältnisse charakterisieren will,
dann ist es so, dass wir beim Elektronenmikro-
skop eine sehr grosse Schärfentiefe, einen sehr
grossen Bereich der Schärfentiefe vorfinden.
Dieser grosse Bereich der Schärfentiefe gestat-
tet natürlich, den Abbildungsmasstab sehr weit
hinauf zu treiben. Es ist nun grundsätzlich noch
hinzuzufügen, dass wir beim Elektronenmikro-
skop, wie schon die vor zwanzig Jahren durch-
geführten Untersuchungen von Dr Burkhardt
zeigen, dass man es dort mit einer, zumindest
in weitgehender Annäherung bestehenden,
Parallelprojektion zu tun hat. Ganz einfach
charakterisiert, liegen die Dinge so: es wird ein
Parallelstrahlenbündel ausgesendet, durchsetzt
das Objekt, und dieses Parallelstrahlenbündel
wird dann durch die elektromagnetischen Lin-
sen gleichsam auseinandergebogen, und auf
diese Art und Weise wird die Vergrösserung er-
reicht. Wenn man nun etwa den Normalfall, wie
wir ihn von der terrestrischen Photogrammetrie
her kennen, auf das Elektronenmikroskop an-
wenden wollte, dann bekämen wir natürlich kein
Stereobild. Man hätte einfach zwei identische
Parallelprojektionen des Objektes vor sich.
Daher führt man sogenannte Konvergenzauf-
nahmen durch, also zwei Aufnahmen des Ob-
jektes, die unter einem bestimmten Winkel zu
einander geneigt sind. Betrachtet man die so
erhaltenen Parallelprojektionen unter dem
Mikroskop, unter dem Stereoskop, dann ver-
mitteln diese auch wieder einen Raumeindruck,
wobei es allerdings nicht möglich ist, ein raum-
freies Modell zu erhalten, weil wir doch mit
einem zentralperspektivischen Bündel betrach-
ten. Das Problem wäre nun die Ausmessung
solcher Stereotyp-Paare, wie wir sie beim Elek-
tronenmikroskop gewinnen. Die geometrischen
Grundlagen sind sehr einfach: es sind zwei
Parallelprojektionen, die unter einem bestimm-
ten Winkel entstehen, man kann sehr leicht die
Beziehungen zwischen der Lage der Bildpunkte
und der Lage des zugeordneten Raumpunktes
gewinnen, und damit stünde eigentlich nichts im
Wege, diese Stereobildpaare des Elektronen-
mikroskops photogrammetrisch auszuwerten.
Die Probleme, die dabei auftreten, liegen aber
auf einer etwas anderen Ebene.
Es ist nämlich beim Elektronenmikroskop,
wenn wir uns vielleicht etwas flüchtig so aus-
drücken wollen, die Projektierung der beiden
Bilder nicht streng bekannt, und ausserdem
gibt es kleine Verdrehungen und Vergrösse-
rungsänderungen zwischen den beiden Abbil-
dungen. Ob als Letzteres, ist dazu zu ergänzen,
dass die Bestimmung des Konvergenzwinkels
der beiden Aufnahmen hin und wieder auf ge-
wisse Schwierigkeiten stösst. Man findet also
ein Projektierungsproblem, so können wir es
leicht nennen, vor, wenn man die beiden Bilde-
benen in eine Ebene ausbreitet; dann müssen,
wie wir es auch von der Luftbildmessung her
gewohnt sind, die Vertikalparallaxen verschwin-
den, zugeordnete Punkte müssen auf Geraden
Z = konstant liegen. Die Mittel, um das zu
erreichen, sind zwei Verschiebungen der beiden
Bilder in den Bildebenen, zwei Drehungen und
zwei Masstabsreduktionen. Nun sind diese Ope-
rationen wohl miteinander verbunden. Man
kann das ganze Problem einschränken auf eine
Verschiebung in der Z-Richtung etwa des rech-
ten Bildes auf zwei Verdrehungen und auf eine
Masstabsänderung eines der beiden Bilder.
Durch diese vier Operationen gelingt es, ein
parallaxfreies Modell zu finden und zwar sind
diese Operationen, wie wir ausdrücklich hervor-
heben wollen, unabhängig vom Konvergenz-
winkel. Man kann, wenn man diese Bilder
orientiert hat, nun einen beliebigen Konvergenz-
winkel einführen, dann erhält man noch immer
ein parallaxfreies Modell, jedoch erleidet das
Modell, wenn man einen unrichtigen Konver-
genzwinkel einführt, affine Verzerrungen, und
nachdem die Konvergenzwinkel relativ klein
sind, einige Grade, so wirken sich natürlich Un-
sicherheiten in den Konvergenzwinkeln sehr
stark auf das Modell aus. Das Problem, das sich
hier ergibt, ist dann die Bestimmung, die exakte
oder, sagen wir zumindest ausreichende, Be-
stimmung des Konvergenzwinkels. In meinem
Institut sind seit einem Jahr derartige Versuche
ausgeführt worden, und diese Versuche haben
durch den Rat eines erfahrenen Elektronen-
mikroskopikers eine ganz eigenartige Richtung
genommen. Wir haben als Testobjekt, also
gleichsam als Passpunktfeld, Kristalle verwen-
det, und zwar Kristalle von streng würfliger
Struktur, Magnesium Oxyd. Diese Kristalle kón-
nen in allen móglichen Gróssen prápariert wer-
den und, nachdem man nun bei dieser würfe-
ligen Struktur die Verháltnisse der Seiten usw
zu einander kennt, kann man nachher den ver-
wendeten Konvergenzwinkel rekonstruieren,
indem man ebea den Konvergenzwinkel variiert
so lange, bis die vorgegebenen Streckenverhált-
nisse in einem Würfel tatsáchlich ihre Werte er-
reichen, und damit ist das Problem der Bestim-
mung des Konvergenzwinkels einigermassen
gelóst.
Es wird Sie vielleicht noch interessieren,
welche Leistungen man von diesem Verfahren
erwarten kann. Man muss vorausschicken, dass
die Schärfe elektronenmikroskopischer Bilder
nicht dieselbe ist wie etwa die Schärfe einer
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