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732 Doppelbrechung.
Flüssigkeiten von geringerer Lichtfortpflanzungsgeschwindigkeit eg glesst. Die
feineren Instrumente besitzen ausser dem Polarisator- und Analysatorrohr noch
ein seitliches Collimatorrohr, mit Hilfe dessen man den Winkel der Platten-
normale gegen die (scheinbaren) optischen Axen bestimmen kann. Kennt man
diese, so kann man nach einer von G. KrRcHHOrF!) gegebenen Formel den
wahren Axenwinkel 2 7/ berechnen, falls ausserdem noch 7 bekannt ist. B. HkcuT 7)
hat nüher den Einfluss studirt, welchen Orientirungsfehler der Platte, d. h. Ab-
weichungen ihrer Normale von der Richtung der Mittellinie, auf die Bestimmung
des Axenwinkels ausüben. Es erweist sich die Formel(82), in welcher 92 //' den
wirklich an der Platte gemessenen scheinbaren Axenwinkel bedeutet, unveründert
gültig, so lange die Plattennormale in der durch die Mittellinie gehenden, auf
der Ebene der optischen Axen senkrechten Ebene liegt. Die Orientirungsfehler
haben um so geringeren Einfluss, je náher der Brechungsexponent der umgeben-
den Flüssigkeit gleich dem mittleren C des Krystalls ist. Es ist daher
günstig, den scheinbaren Axenwinkel innerhalb einer die Krystallplatte umgeben-
den Flüssigkeit zu beobachten. Falls diese einen Brechungsexponenten von 1:6
besitzt, so liegt derselbe íür die meisten Krystalle ihrem mittleren Brechungs-
exponenten hinreichend nahe, um kleine Orientirungsfehler der Platte vernach-
lässigen zu können.
Die Messung des Winkels der optischen Axen gewährt ebenfalls eine scharfe
Prüfung 3) der FRESNEL’schen Gesetze, falls die optischen Constanten des Krystalls
aus Prismenbeobachtungen berechnet sind (cf. pag. 711).
Zur Bestimmung des Axenwinkels ist homogene Beleuchtung anzuwenden %),
da derselbe von der Wellenlänge abhängig ist. Im weissen Lichte erscheinen
die Hauptisogyren in Folge der Dispersion der optischen Axen farbig gesäumt.
Aus der Symmetrie?) des Farbenbildes in der Diagonalstellung der Platte kann
man direkt einen Schluss auf das Krystallsystem derselben machen. Bei rhom-
bischen Krystallen besitzt das Interferenzbild zwei senkrechte Symmetrielinien,
bei monoklinen entweder nur eine [und zwar verläuft dieselbe parallel zur Ebene
der optischen Axen, falls diese mit der krystallographischen Symmetrieebene
zusammenfällt (sogen. geneigte Dispersion) oder senkrecht zur Ebene der opti-
schen Axen, falls die zweite Mittellinie senkrecht zu der krystallographischen
Symmetrieebene steht (horizontale Dispersion)] oder sie besitzt nur ein Symmetrie-
centrum [falls nämlich die erste Mittellinie senkrecht zur krystallographischen
Symmetrieebene steht (gekreuzte Dispersion)]. Bei triklinen Krystallen ist das
Interferenzbild völlig unsymmetrisch.
Ist die Krystallplatte senkrecht zur zweiten Mittellinie geschliffen, so
ist das Interferenzbild im Allgemeinen von demselben Charakter, wie das vorhin
') G. KIRCHHOFF, PoGG. Ann. 108, pag. 571. 1859. — Vergl. auch TH. LikBiscH, Ztschrft.
tür Krystallogr. 7, pag. 304. 1882.
7) B. HECHT, N. Jahrb. f. Mineral. 1, pag. 250. 1887.
3) Vergl. G. KIRCHHOFF, 1. c. Derselbe hat diese Prüfung am Arragonit vollzogen und
befriedigende Uebereinstimmung mit der Theorie erhalten.
*) KIRCHHOFF (l c., pag. 567, Ges. Abhandl. Leipzig, 1882, pag. 577) hat seinem Appa-
rate eine Einrichtung gegeben, vermóge welcher man den Axenwinkel für die FRAUNHOFER-
schen Linien bestimmen kann. Vergl. auch V. von LANG, Wien. Ber. (ID, 76, pag. 805. 1877.
Zeitschr. f. Kryst. 2, pag. 492. 1878. — H. DUFET, Bull. soc. frang. de min. 9, pag. 275. 1886.
Journ. de phys. (2) 5, pag. 564. 1886.
9) Vergl. pag. 687.
