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Mikrometer und Mikrometermessungen.
8’ $
1= (1 + 4 tang?3,) eJ sin* 1",
9
mithin .
0 — a= em wie oben,
dagegen
8 — à = 15 cos 8, eer hon —,
Für 3 — à = 10' erreicht 1 folgende Werthe: bei 8, = 70° 0"-03, à, = 75°
0"-04, 8, — 80? 0'^08, so dass es innerhalb dieser Grenzen noch vernachlässigt
werden kann.
Berücksichtigung der Eigenbewegung.
Hat das zu bestimmende Object eine eigene Bewegung, so erhalten die nach
den obigen Ausdrücken berechneten Unterschiede die Incremente
! g.—g
A(s! — 0) 33. sec, : 5 =
3, —¥
AG — 8) = 154a! cos, 1—5 —,
wo Aa' (in Zeit) und A$' (in Bogensecunden) die Aenderungen der Eigen-
9 ! '
bewegung in der dem Factor — $0 zu Grunde liegenden Zeiteinheit sind und
! 1
1
: ; 9
die hiernach verbesserten Coordinaten tür das Mittel der Zeiten: gelten.
Einfluss der Refraction.
Die Einwirkung der Refraction ist eine verschiedene, je nachdem die
Lamelle mit der scheinbaren, d. h. der durch die Strablenbrechung afficirten
Richtung der täglichen Bewegung, oder mit der wahren Richtung derselben den
Winkel von == 45° einschliesst. Indem wir in dieser Hinsicht auf den bezüg-
lichen Abschnitt beim Positionsmikrometer verweisen, setzen wir hier zunächst
voraus, dass die Lamelle oder der Faden nach dem wahren Parallel orientirt
d. h. gegen den durch das Drehungscentrum gehenden Declinationskreis um
+ 45° geneigt sei. :
Sind wiederum a', d', a, 8, die wahren, a' +5, o + ¢', a+ £, b+
die mit Strahlenbrechung behafteten Oerter, so ergeben die Beobachtungen un-
mittelbar die beiden folgenden Gleichungen:
P P ! Q 1 q' zi g
a! + (5 — 9'— 8 — 4 [2 4- 2 — (6 - 2) seco - 77.3 Lage I
? +
a + Fa — («+ —9,—9, een! Gen) ein) Lage IL.
An die ohne Rücksicht auf Strahlenbrechung berechneten Werthe a’ — «
und ?9' — à hat man folglich die Verbesserungen anzubringen:
A ' 1 ! i 1 ' ! ]
(fe gp (f= po 1) =) S chi.
] 8-2 2 ;
Ta (Par — "ia lang 0o sec 09 (8' — 9)
a.
