Die Bedingung für die maximale Schwächung der reflektierten Welle ergibt sich durch zu 
Differentation der Gleichung 1 nach )\ zu daı 
Die 
(2) CoS(cA+P+T)=-1 bzw. C/A+P+T=(241)M 1=042,.... erf 
ds“ 
Aus der Gleichung (2) erhält man schließlich durch einfache Umformung die Auslösch- Int 
bedingung Scl 
De 
(3) 2n,d+(P+T)A/2MT=(2141)A/2 (=0,12,..... (3) bei 
dic 
Für das Reflexionsvermögen im Interferenzminimum gilt dann die Formel Di 
@ nn [oz 6 2 (6 
ma {4 = jallel 
WC 
aus der ersichtlich ist, daß Rı,;in auch in verschiedenen Ordnungen denselben Wert hat, also 
schichtdickenunabhängig ist. 
Rınin und damit die Interferenzwellenlänge A, ;„ können mit einem Mikroskopphotometer 
aus der Messung von R (A) erhalten werden. (7 
3. Identifizierung unbekannter Phasen er 
Öö 
Die Messung von Rınin zur Identifizierung unbekannter Phasen ist mit Vorteil dann anzu- Ph 
wenden, wenn sie als Bestimmungsstück bei Phasen mit gleichem Reflexionsvermögen Fü 
(unbedampft bei 590 nm), aber verschiedenen optischen Konstanten verwendet werden de 
kann. Eine solche Möglichkeit wäre beispielsweise die Diagnose komplexer Spinelle, die 
durch die Angabe des Reflexionswertes allein nur unvollständig beschrieben werden. 
Die Verwendung des 2. Parameters, \m;n, erscheint einfacher, da durch die Schicht die (8 
Phasensprünge nichtmetallischer Einschlüsse verstärkt werden und auf diese Weise deutliche 
Farbunterschiede zwischen verschiedenen Phasen auftreten, die schon ohne Messung der 
Interferenzminima zur Gefügebestimmung herangezogen werden können. Es wurden daher In 
diese Gesetzmäßigkeiten und ihre metallographische Anwendbarkeit untersucht, da zu V. 
dieser, von Pepperhoff* angeregten Methode bisher nur einzelne empirische Angaben vor- 
liegen. 
Das Zustandekommen dieser Farbunterschiede zeigt Fig. 1. Darin ist die Überlagerung der an (9 
der Schichtoberseite (I) und der Trägeroberfläche (II) reflektierten Lichtwellen 
de 
E= Ep: cos te Z (x ne] } Pe 
- Ex 
= Set ‚P/2T Di 
(5) Er Fon <9® {u (' zZ (x+2n, A+A j} n 
74