robe aus nummernunterschiede (in diesem Fall Abbildung durch Primärelektronen) darstellt. Die in 
;r Reihe den anderen Fällen anzuwendenden Präparationsverfahren, z. B. Ätzen, Ionenbeschuß und 
‚„heraus- ähnliches, sollen den interessierenden Gefügebestandteil möglichst nicht angreifen, dagegen 
dem nur die nicht interessierende Matrix auflösen. 
rechten 
‚bleiben Microstructures in the Scanning Electron Microscope 
ge Ein- 
len Ein- The scanning electron microscope belongs to the group of scanning microscopes, for which 
Wärme- an enlarged image formation of the object is achieved by a non-optical method. A finely 
ıwänden concentrated electron beam scans the surface in lines, the intensity of the emitted secondary 
and/or primary electrons gives the image contrast. Without additional preparation the 
Beispiele microstructure can be made visible in all cases in which topographic differences (in the 
Fig. 18b fracture surface) or differences in atomic number exist (in this case image formation occurs 
jonsrisse via primary electrons). The methods of preparation to be applied in other cases, i. e. etching, 
len war. ion bombardement etc., should not attack the microstructural detail of interest, but should 
Fig. 19). dissolve the non-interesting matrix. 
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