L = effektive Kameralänge. Hierin ist die Möglichkeit einer sehr präzisen Orientierungs-
bestimmung begründet. Für die Auswerteverfahren sei auf die erwähnten früheren Arbeiten
verwiesen !> 2» 6» 7» 8 Auch, wenn nur ein einziger Kikuchi-Pol vorliegt, ist eine genaue
Orientierungsbestimmung möglich” . (Ein „Kikuchi-Pol“ ist die Zonenachse [uvw], die sich
als Kreuzprodukt aus den Millerschen Indizes zweier Paare von Kikuchilinien auf dem
Leuchtschirm ergibt.)
2.2, Schwerpunktmethode
Fällt eine niedrig indizierte Richtung im Gitter zufällig genau mit dem Primärstrahl P
zusammen, so ist das entstehende Beugungspunktmuster auch in den Intensitäten
symmetrisch zu P (Laue-Fall). Eine Verkippung des Kristalls um € um eine Achse senkrecht
zu P verschiebt den „Schwerpunkt“ des Punktdiagramms ebenfalls um a, wobei wieder gilt
€= % /L. Die hierdurch erzielbare Genauigkeit ist etwas geringer als mit Hilfe der
Kikuchi-Linien!» ?.
2.3. Verfahren nach Ryder und Pitsch
Für den Fall, daß Beugungspunkte aus mehreren Laue-Zonen auftreten, läßt sich nach P. L.
Ryder und W. Pitsch‘? *> 10 die genaue Orientierung als eine Art sinnvoll gewichtetes Mittel
aus denjenigen Orientierungen bestimmen, welche aus den einzelnen Laue-Zonen (mit
geringerer Genauigkeit) folgen würden. In günstigen Fällen läßt sich nahezu derselbe Grad an
Genauigkeit erreichen wie mittels Kikuchi-Linien.
2.4, Spurenmethoden
Sonderfälle mit der Möglichkeit recht genauer Orientierungsbestimmungen liegen vor, wenn
das Präparat die Spuren kristallographisch bekannter Ebenen oder Richtungen enthält, wie
z. B. von Stapelfehlern, Gleitebenen oder als Habitusebenen von Ausscheidungen‘ * bis as
Es lassen sich dann elementare geometrische Formeln sowohl zur Bestimmung der Orien-
tierung als auch der Schichtdicke ableiten?» 1!» 12
3. Zweideutigkeit bei der Orientierungsbestimmung
3.1. Die „180°-Zweideutigkeit“
Wegen der sehr kleinen Beugungswinkel (© = 0... 1°) bei der Beugung von 100 kV-
Elektronen an Kristallen liegen die reflektierenden Netzebenen alle nahezu parallel zum
Primärstrahl P. Bei einer Drehung des Kristalls um 180° um P als Achse* gehen aber alle
diese Netzebenen in sich selbst über. Deshalb sind die beiden Beugungsbilder, die vor bzw.
nach einer 180°-Drehung um P entstehen, identisch. Die zugehörigen Kristallorientierungen
sind aber im allgemeinen völlig verschieden (Fig. 1). Diese 180°-Zweideutigkeit tritt grund-
sätzlich bei allen Kristallsystemen auf. In der Indizierung entspricht sie einer Multiplikation
aller Reflex-Indizes (hkl) mit dem Faktor -1, während die Indizierung der Foliennormalen
[uvw], d. h. der Kristallachse parallel P, unverändert bleibt. Die 180°-Zweideutigkeit liegt
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