demnach c) Die Zonenachsen dürfen keinen großen Winkel miteinander bilden, d. h. nicht mehr als
hkl) bzw. maximal 10 bis 20°.
°n Fällen, Liegen keine Reflexe einer zweiten Laue-Zone vor, so verbleibt noch — wie im Falle der
lie Kreise 180°-Zweideutigkeit — die aufwendigere Möglichkeit, durch Kippen der Probe im Elektro-
uf Grund nenmikroskop andere Laue-Zonen in Reflexlage zu bringen und damit die Entscheidung zu
dizierung ermöglichen. Falls die Koinzidenz-Zweideutigkeit nicht ausgeschaltet wird, so überlagert sich
dieser noch die 180°-Zweideutigkeit, und die Analyse ist dann vierdeutig.
stehenden Zum Schluß sei noch erwähnt, daß durch die zunehmende Verwendung von Hoch-
s sich die spannungs-Elektronenmikroskopen die Frage der Koinzidenz-Zweideutigkeiten eine größere
ch falsch, Rolle spielen könnte: Infolge der kleineren Wellenlängen sind die entstehenden Beugungs-
(Punkte) diagramme kleinmustriger, d.h. die Grenze der auf einer 6 x 9 cm-Platte noch gebeugten
m, das als Netzebenenabstände d in Tabelle 2 wird weiter nach unten verschoben. Damit wird die Zahl
jetrachtet der zu berücksichtigenden Möglichkeiten von Koinzidenzen also vergrößert.
rung 660 Herrn Priv.-Doz. Dr. H. Burzlaff sei für Diskussionen und Herrn Dipl.-Phys. K. Schneider für
In müssen kritische Durchsicht des Manuskriptes sowie die Beispiele der Tabelle 1 herzlich gedankt.
reten, die
). Also ist Zusammenfassung
He WS Das Elektronenbeugungsdiagramm einer einkristallinen Probenstelle ist normalerweise zwei-
lich kann . . . = z
len sofort deutig, d. h. zwei verschiedene Probenorientierungen können genau dasselbe Punk ogramm
ınd (000) erzeugen. Diese beiden Probenlagen gehen durch Drehung der Probe um 180 um den
dierenden Primärstrahl ineinander über. Diese Art von Zweideutigkeit wird deshalb als „180°-Zwei-
deutigkeit““ bezeichnet. Daneben wird über eine andere Art von zweideutigen Lösungen
Sr-Deiden berichtet, die sog. „Koinzidenz-Zweideutigkeit“. Sie tritt nur in hochsymmetrischen, wie
hen (000) z.B. dem kubischen, Gitter auf. Die beiden dasselbe Beugungsdiagramm erzeugenden
zierungs- Probenlagen sind hier durch keinerlei Symmetriebeziehungen miteinander verknüpft. Die
esonderte Ursache liegt in koinzidierenden, d. h. dieselbe Indizes-Quadratsumme liefernden Reflexen,
und der wie z. B. (355) und (173), für die beide h?+k?+1? = 59 ist.
en. m der Es wird über mögliche Methoden berichtet, die Zweideutigkeiten auszuschalten. Außerdem
bar. Die wird ein Überblick gegeben über die z. Z. bekannten Verfahren zur Steigerung der Genauig-
niedriger keit, mit der aus Feinbereichsbeugungsdiagrammen die Probenorientierung bestimmt werden
r auch im kann.
chbarten Anmerkung: Während der Drucklegung dieser Arbeit wurde unabhängig hiervon eine
ec m de Untersuchung ähnlichen Inhalts von B.J. Duggan und R.L. Segall angekündigt (Acta
Taumliche Met. 19, 317 (1971)), in der auch der Fall von krz. Gittern in Bezug auf Koinzidenzen
En en auftritt.
;h, daß i
3rung von
sein: Preciseness and Uniqueness of Crystallographic Orientation Determination
z.B. der by Electron Diffraction
derselben The electron diffraction pattern of a single crystalline sample area is usually ambiguous, i. e.
two different sample orientations may produce exactly the same spot pattern. These two
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