Abb. 13: Oberfldchenstruktur eines Abb. 14: Detail aus Abb. 13
fehlorientierten Schicht-
bereiches (45° gekippt)
Fehlorientierte Proben
Die REM-Aufnahmen, Abb. 13 und Abb. 14, zeicen eine mosaikartige
Oberflichentopographie. Man erkennt in Abb. 14, daB die Kristallite
geringe Orientierungsunterschiede aufweisen und daß sich in Be-
reichen, die sehr schlecht zusammenpassen (Pfeil), neue Kristalle
gebildet haben. Die Laue-Aufnahme, Abb. 15, zeigt neben den typisch
einkristallinen Reflexen fiir PbTe und BaF, vereinzelte zusätzliche
Reflexe (Pfeil), die auf eine geringe Fehl-
orientierung einzelner PbTe-Kristallite
hinweisen. Die Schicht scheint überwiegend
aus epitaktisch aufgewachsenen Einzel-
kristallen aufgebaut, wobei eine geringe
Anzahl von Kristalliten eine Fehlorientierung
aufweisen.
Die Schichtränder dieser Proben, Abb. 16 und
Abb. 17, zeigen eine fast perfekte Epitaxie
, der einzelnen Kristallite.
cht- Abb. 15: Laue-Aufnahme Dieses Wachstum entspricht dem sogenannten
) PbTe-Schicht Inselwachstum (Abb. 5a). Wie Abb. 17 zeigt,
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