Abb. 8: FIM- und TEM-Bild (250.000 x) desselben Teilchens 
Auch Korngrenzen können im FIM gut beobachtet werden, besonders dann, wenn sie 
mit Fremdatomen und Clusters belegt sind (decorated grain boundary), wie in Abb. 9 
dargestellt. Auch solche kleinen Fremdatomansammlungen lassen sich noch analysie- 
ren, wenn man zur Datenauswertung sogenannte Arrival-Diagramme verwendet, wo 
die Ionen in der Reihenfolge ihres Auftreffens auf dem Atomsondendetektor aufge- 
listet sind (Abb. 10). Im vorliegenden Beispiel wurde eine Zahl von 40 Ionen pro 
Reihe gewählt, was ungefähr einer Atomlage entspricht. Jedem Element ordnet man 
gewisse Bereiche auf der m/n-Skala (z.B. C: 5,8 - 6,2; 11,8 - 12,2) und ein Symbol 
zu. Auf diese Weise kann man trotz der Uberlappung beim m/n-Wert 14 eine Unter- 
scheidung zwischen Stickstoff und Silizium treffen, wenn man annimmt, daß die 
Si-Ionen.aus der Matrix und die Stickstoff-Ionen aus den Teilchen stammen. 
ERGEBNIS: 
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Abb. 9: FIM-Bilder von Korngrenzen mit Clusters und Fremdatomen Probe 4 
Prakt. Met. Sonderbd. 21 (1990) 
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