426 Prakt. Met. Sonderband 30 (1999) 
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1,3,5: Kupfer, 2: SnPb-Lot, 4: Al203-Keramik, 6: Sn-Lot, 7: Silizium, 
Bild 4: Darstellung des Harteprofils im Querschliff 
In Bild 4 erkennt man, daß bei der Querschlifferstellung besondere Schwierigkeiten bei der 
Darstellung der Übergänge von Kupfer zu Keramik und von Silizium zum Zinn zu erwarten sind. 
Den deutlichen Vorteil aus der Anwendung der Methode 2 erkennt man aus der Messung des 
Höhenprofils der Querschliffe (Bilder 5a + 5b).