442  Prakt. Met. Sonderband 30 (1999) 
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Bild 3: TEM- und SEM-Aufnahmen (a,b) an einem Querschnittpräparat / MMC-Herstellung 
unter Einsatz von Ni(P)-beschichteten C-Fasern 
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Bild 4 TEM- und SEM-Aufnahmen (a,b) an einem Querschnittpraparat / MMC-Herstellung 
unter Einsatz von SiC-beschichteten C-Fasern