aufgenommen. Für die Untersuchung der Planflächen, die im 
Querschliff als Stufen erscheinen, wurden unterschiedlich große 
Gebiete mit einer Schrittweite von 0,5 und 1 um vermessen. 
Das für die Datenaufnahme und Auswertung eingesetzte EBSD- 
System (TSL, OIM 2.6) gestattet unter anderem die Darstellung 
der Ergebnisse im 
a) Bildqualitätskontrast (Image Quality, IQ), wobei die Schärfe und 
der Kontrast der EBSD bewertet wird. Diese hängen u.a. auch vom 
Grad der Gitterverzerrung ab, 
b) Orientierungskontrast, wobei die Farben bzw. Graustufen einer 
Richtung in der inversen Polfigur (IPF) entsprechen, die parallel zu 
einer vorbestimmten Probenrichtung liegt, 
c) Schmidfaktor-Kontrast, wobei der Grauwert dem entsprechen- 
den Schmidfaktor (SF) zugeordnet wird. Dieser gibt an, ob sich für 
eine vorgegebene Belastungsrichtung die Gleitsysteme in einem 
Korn leicht oder schwer aktivieren lassen. Beim flächenzentrierten 
Kupfer erfolgt die Gleitung auf {111}-Ebenen entlang <110>- 
Richtungen. Zusätzlich lassen sich Gitterdrehungen durch die Mis- 
sorientierung der Messpunkte entlang einer Linie in Bezug zum 
Anfangspunkt darstellen. 
Ergebnisse i 
x= 
+ atl Bild 1 zeigt im IQ-Kontrast eine Messflache vom Grund der Bear- 
Bild 1: Randzone von Spur 6 im beitungsspur 6. Eingezeichnet sind, wie auch in den folgenden 
1Q-Kontrast. Darstellungen, als diinne Linien Orientierungsunterschiede von 1°, Grauwer 
schätzt w 
TE Eine IPF- 
das Mikın 
2b zeigt 4 
(SF-Kont 
men in B 
günstiger 
wird. Das 
ee MEL 1 Boundary levels: 5.0°15.0° 1.0°2.0° 30 
70 um IPF Map [0011 
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10 pm Schmid Factor 0.3...0.- co Distance [um] 
Bild 2: a) IPF-Darstellung von Spur 1 mit geschiidigter Randzone. Graustufen gemif der inversen Polfigur 
(kleines Bild) b) Ausschnitt von a) im SF-Kontrast. Korn A hat einen kleineren Schmidfaktor als B, zur Ober- 
fliche hin wird der Schmidfaktor jedoch infolge einer Gitterdrehung größer. c) Gitterdrehung entlang der in 4 
b) eingezeichneten Messlinien. Aue (i 
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