| Probenmaterial | Untersuchungs ziel Priiparation _. _Untersuchungsmethode | Zusatzgeriite Funda®
Kompaktes Gefiigebewertung Anschliff Auflicht Mikrohirte, Microm
| Metall Art, Größe, Verteilung | Hell- und Dunkelfeld Temperierungseinrichtuy : rin
Beschichtungs- Anschliff Auflicht Zubehör für mikroskopisc Expe
untersuchung _+ _Hell- und Dunkelfeld Messen und Zählen m
Gesintertes Porenvolumen Anschliff Auflicht Digitale Bildauswertung „AV
Metall nn oo _i__Hell- und Dunkelfeld ~~ _
Gesinterte Gefiigebestandteile Messende Messkompensatoren
Keramik Art, Größe, Verteilung Dünnschliff Polarisationsmikroskopie Universaldrehtisch
a Einrichtung für Konosko
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a Porenvolumen ‚markiert _ Auflicht - Fluoreszenz - __ Fluoreszenzeinrichtung on
Amorphe FlieBniihte | Totalpriiparat Durchstrahlung im Grofipolarisatoren, zB . &
Kunststoffe + _Diinnschliff polarisierten Licht __ spannungsoptische Ban] y
Messung der Totalpriparat Messende Messkompensatoren, research!
Anisotropie Dickschliff Polarisationsmikroskopie Universaldrehtisch, op
Diinnschliff Einrichtung fiir Konoska "7
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Kunststoffe Art, Größe, Verteilung Diinnschliff messende Bildauswertung Einrichtur' The cc
. Polarisationsmikroskopie zur Brechzahlmessung SS
Tabelle 3: Methoden der Materialographie NEN
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