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fo Ergebnisdarstellung 
i zum Lichtmikroskopie 
Shes Anhand der mikroskopischen Durchlichtaufnahmen der Flächenschliffe wurde vermutet, daß die 
hochohmigen Kurzschlüsse während der Auslagerung gewachsene Kupferfäden sind (siehe Bild 2). 
Die Fäden haben einen Durchmesser von weniger als 1um und liegen in der Grenzfläche zwischen 
dem Kernmaterial und dem RCC-Folienharz im RCC-Harz. Auf die rauhe Leiterbahnkante in Lage 
3 fokussiert, hat man die richtige Einstellung für die notwendige Tiefenschärfe. Die 
Grenzflächenlage konnte durch zwei unabhängige REM-Bildserien bestätigt werden (siehe Bild 3). 
Netene Zur leichteren Lokalisierung wird im Lichtmikroskop in der Nähe des Fadens eine Markierung so 
Ci angebracht, daß sie später im REM wiederzuerkennen ist und der Faden untersucht werden kann. 
+ Keen 
B: Detail 
uss 
«Lt eine 
A: Übersicht 
mittels einer 
{gem Bild 2: Flächenschliff im Durchlicht 
pferschicht, 
wupferschicht 
EDL REM/EDX-Untersuchung 
dem 
Kupferlage Dazu wurde der in Bild 2 gezeigte Faden in senkrechter Richtung zum Flächenschliff erneut 
geschliffen und geschliffen und poliert. 
licht). Dabei 
werden um ein A: Lichtmikroskop 
werden (siehe 
Curzschlusses ; 
Ile und präzise = 
J Jie Probe Cufaden yar der RCCFolie 
mn muß beachtet B: REM 
Jativ weichen 
x vermieden. Bild 3: Faden in der Grenzfläche zwischen Kern und RCC-Harz 
Das Ergebnis der Elementanlayse des Fadens zeigte einen deutlichen Peak beim Kupfer, so daß der 
Verdacht bestätigt wurde, daß es sich bei dem Faden um einen leitfähigen Kupferfaden handelt, der 
die oben genannten Kurzschlüsse verursacht. 
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