Prakt. Met. Sonderband 38 (2006) 467 
jepragte Die REM-Untersuchung von Galvannealed mit Stangelkristallen an der ZnFe-Uberzugs- 
oberflache zeigt, dass durch die höhere Auflösung bei geringer Beschleunigungsspannung 
im FE-REM die Morphologie der Stängelkristalloberfläche wesentlich deutlicher abgebildet 
werden kann (Bild 4). Die folgenden mittels FE-REM erzeugten Aufnahmen von ZnFe- 
Überzügen mit unterschiedlichem Legierungsgrad ermöglichen aufgrund der im Vergleich 
zur Lichtmikroskopie höheren Auflösung detaillierte Informationen über die Kristallaus- 
bildung der intermetallischen ZnFe-Phasen. 
0310A05010 5000:1 0,5% HNO3 J 
Co J310A04496 10000: a 
O-facher a) senkrechter Anschliff b) Oberflachenausbildung 
r ZnFe- . 
(REM) Bild 5: Unvollstandig legierter ZnFe-Uberzug mit Sténgelkristallen der {-Phase 
r diese 
Tescan) 
0310A05449 5000: 1 0,5% HNO3 —b um 
A... 0310404505 1000 Zum 
i=" a) senkrechter Anschliff b) Oberflachenausbildung 
Bild 6: Durchlegierter ZnFe-Legierungstiberzug mit Stangelkristallen von zu 8-Phase 
zerfallenen monoklinen {-Kristallen 
In Bild 5 und 6 sind monokline Stangelkristalle zu erkennen, die normalerweise als Indiz 
für das Auftreten der C-Phase dienen. Im senkrechten Anschliff ist jedoch in einem Fall 
(Bild 6a) keine £-Phase festzustellen. Zusätzlich zeigt diese Probe eine andere Morpho- 
Qr-