152 Prakt. Met. Sonderband 46 (2014) 
durchgeführt (vgl. Bild 3 links). Da die aus den Messdaten extrahierten Intensitäten von 
verschiedenen Parametern, wie beispielsweise der Messzeit und der Topographie, 2 32x10" + 
beeinflusst werden, wurde fur die Analyse die normierten Intensitatsprofile berechnet. Die E 
Normierung auf ein geeignetes Substratsignal erlaubt es, Daten von Proben ähnlicher 2 28x10" 
chemischer Zusammensetzung semi-quantitativ miteinander zu vergleichen. 5 p10" 
2 
x 2,010" 
3 
8 1,6x10" 
5 12x10" 
£ 0.0 
Priparierte 
Flache 
Bild 4: Li 
des Ober 
§ tfür dir 
SIMS.flpeeyn Messpunkt fir die 
optische Emissions- 
spektrometrie Um dies 
bestimmte 
Kohlensto 
Bild 3 : Darstellung der Messrichtung der Linienanalyse der SIMS Methode und der 0,46 Ma% 
Messposition der optischen Emissionsspektrometrie Weiteren: 
die so ur 
gegenübe 
Zur Validierung der SIMS-Technik wurde die Kohlenstoffverteilung auch mittels optischer Damit is 
Emissionsspektrometrie am IWT in Bremen ermittelt. Es wurde ein Spektrometer vom Typ Bauteilbe’ 
ARL 3460 eingesetzt und die Messungen gemäß DIN 51009 [6] durchgeführt. Durch eine 
Kombination mit einem  abtragenden  Schleifverfahren konnten ebenfalls 
Kohlenstofftiefenprofile erzeugt werden. Eine Präparation der Proben vor Anwendung der 
optischen Emissionsspektrometrie war nicht notwendig. Gemessen wurde jeweils auf der 
Stirnseite der Probe (vgl. Bild 3 rechts). 
4. ERGEBNISSE UND DISKUSSION 
In Bild 4 links sind die Ergebnisse der durchgeführten SIMS-Messung dargestellt. 
Aufgetragen ist die Intensität der Kohlenstofflinie des gemessenen Spektrums in 
Abhängigkeit des Oberflächenabstandes. Die Auftragung zeigt ein definiertes Profil. An 
der Bauteiloberfläche wurden deutlich größere Intensitäten als im Kern gemessen. Daraus 
kann geschlossen werden, dass durch das Aufkohlen die Oberfläche mit Kohlenstoff 
angereichert wurde. Quantitative Aussagen sind allein durch die SIMS-Messung allerdings 
nicht möglich. 
Zur Validierung der experimentellen Befunde aus Bild 4 links wurde für die Stirnseite einer 
FZG-Probe ein Kohlenstofftiefenprofil mittels optischer Emissionsspektrometrie gemessen 
Das sich aus der optischer Emissionsspektrometrie ergebende Kohlenstofftiefenprofil ist in 5. ZUSA 
Bild 4 rechts dargestellt. Hierbei zeigt sich, dass durch den Aufkohlvorgang ein definiertes 
Kohlenstofftiefenprofil erzeugt wurde. Der Randkohlenstoffgehalt liegt bei ungefähr Kohlensto 
cc= 1 Ma%. Durch die vorhandene Porosität ergeben sich ein sehr flacher Gradient und Sekundäri 
eine sehr große Aufkohltiefe. hergestell; 
Auswerte!