Prakt. Met. Sonderband 46 (2014) 63
an gleichmäßigen
Lon Abb. 2: EBSD- Aufnahme eines Triplepunkts von MHC. (a) Aufnahme im
Sekundarelektronen- Kontrast. (b) IPF- Mapping der Orientierungen von Mo
Ye Ein interessanter Aspekt ist, dass große HfC- Ausscheidungen (+81 um, ~80 nm dick) nur
bei einer Beschleunigungsspannung von 10 kV mit verwendeter Blende detektierbar sind.
Abbildung 3 (a) zeigt ein Image Quality (IQ)- Mapping eines [001] orientierten Korns nach
45 s elektrolytischen Polierens. Bereiche in denen eine schlechtere Patternqualität
akquiriert wurde, werden hier dunkel dargestellt. Man kann deutlich sehen, dass die
großen HfC- Teilchen im [001] orientierten Korn entweder auf der Kante stehen oder auf
der Fläche liegen. Auf der Kante stehende Teilchen die sich entlang der Strahlachse
befinden, haben eine bessere Patternqualität als jene quer zum Elektronenstrahl.
Abbildung 3 (b) zeigt die Orientierungen von Mo, des Korngenzenkarbides Mo.C und der
großen HfC- Ausscheidungen. Die entsprechende Farbkodierung der unterschiedlichen
Kristall-strukturen befindet sich neben Abb. 3 (b). Zusätzlich ist jene
Orientierungsbeziehung zwischen HfC und der Mo Matrix erkennbar, die Ryan et. al. 1968
dargestellt im IPF gezeigt haben. Hierbei sind die {100}mo//{100}pt: Ebenen (auf der Fläche liegende Teilchen
zu Matrix) sowie die <100>mo//<110>ppt Richtungen (auf der Kante stehende Teilchen zu
Matrix) von Teilchen und Matrix zueinander parallel [12].
gte Zerrüttung der
die mit MasterMet oben
annten Bereich in
genommen wurde.
. In Abb. 2 (b) wird
Die in Abb. 2 (a) wr
m von scheinbaren
ersichtlich. Diese
lache hin [11]. Der
ht eingeblendeten
veiteren Scans mit
Abb. 3: MHC Korn in [001] Orientierung. (a) IQ- Mapping. (b) 1Q + IPF- Mapping.