92  Prakt. Met. Sonderband 47 (2015) 
Die Werte fiir <cos ©> bewegen sich zwischen 0,5 im Fall einer isotropen, und 1 im Fall einer ideal 
ausgerichteten Probe. Die gleichen Proben wurden an einem Rasterelektronenmikroskop (Carl Zeiss 
Sigma 300 VP) mittels EBSD an einem EDAX-System untersucht (Messfldche 100pm x 100 pm, 
Schrittweite 0,2 um). Um einen Abgleich mit dem aus XRD-Messungen berechneten Ausrichtungs- 
grad zu ermdglichen, wurde der Ausrichtungsgrad anhand der Halbwertsbreite von Pseudo-Ro- 
cking-Kurven berechnet. 
4 Ergebnisse und Diskussion 
Die Ergebnisse der einzelnen Messmethoden sind in Tabelle 2 zusammengefasst. 
Tabelle 2. 
Ergebnisse der Bestimmung der Doménenorientierung und Berechnung des Ausrichtungsgrads <cos O> 
Dy-Gehalt D 11% 
Domänenorientierung 10 BE 
Kornanzahl 2055 1062 09 SS 
D50 [um] 72 12,0 08- 111% Dy! 
Fehlorientierung 0°- 5° 67% 57% 07 
Fehlorientierung 0°- 10° 77 % 70% 8 96. 
2 05- 
XRD E 04 
Halbwertsbreite 6 [°] 8,4 116 5 
<cos ©6> 0,98 0,96 02 
EBSD (Pseudo-Rocking-Kurve) br ery Th 
Halbwertsbreite [°] 12,4 2 wm 
<cos 6> 0,96 0,94 } Kippwinkel chi [7] 
Bild 4: XRD-Intensitdtsverteilung iiber dem Kipp- 
winkel x. 
50 um um N 
Bild 5: Kerr-Aufnahme 1000x Vergr. (2,5 % Dy) Bild 6: Kerr-Aufnahme 1000x Vergr. (11 % Dy) 
259 4%