104 Prakt. Met. Sonderband 47 (2015)
AB00H-C2 A800F.. - A800H-C7
Kort 4
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Bild 3: Lichtoptische Aufnahmen von Kriechproben, Entnahmeposition: Schaft: a) Hellfeldaufnahmen; b) Dunkelfeld-
aufnahmen von a) (Atzmittel: Beraha III)
Wie in Bild 4 a zu sehen ist, kann die Schidigung in der Probe C7 mit den an den Korngrenzen an-
wesenden Karbiden assoziiert werden. Die Trennung erfolgt dabei an der Phasengrenze zum Kar-
bid. AuBerdem konnten die angebrochenen Ti(C,N) in der Matrix ebenfalls identifiziert werden. In
den Proben C2 und C5 konzentriert sich die Schädigung sichtlich im ausscheidungsfreien Bereich,
siehe Bild 3. Hier kommt es bei Beanspruchung zur Dehnungskonzentration und zum Aufreißen
den nicht belegten Korngrenzen. Bilde
Wird der Bereich des Kopfs und Schafts verglichen (Bild 4 b), so kann festgestellt werden, dass die nd Sip
Dichte der Teilchen im Kopf - im Fall der Probe C7 - wesentlich geringer ausfillt. In der Probe C2 BH;
ist die Mikrostruktur im Kopf ähnlich wie im Schaft. In der Probe C5 können im Kopf weniger ı
Teilchen als im Schaft beobachtet werden N
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Bild 4: Lichtoptische Aufnahmen von Kriechprobe C7, a) Entnahmeposition: Schaft; b) Entnahmeposition: Kopf
3.2 REM-Untersuchungen
Fiir die rasterelektronenmikroskopischen (REM) Untersuchungen kam das Zeiss Auriga Crossbeam
Elektronen- und Ionenstrahlmikroskop zum Einsatz. Die Gefiigebestandteile konnen hier mit einer
Auflösung zu einem Nanometer herab abgebildet werden. Für die Identifizierung und Charakterisie-
rung von Ausscheidungen im REM wurde EDX sowie Elementmapping verwendet.
In Bild 5 sind die REM-Aufnahmen der Probe C2 gezeigt, die bei 650 °C für über 9.900 h bean- i
sprucht war. Die meisten Ausscheidungen, die an den Korngrenzen und im Korn vorzufinden sind, ©
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