Full text: Fortschritte in der Metallographie

138 Prakt. Met. Sonderband 47 (2015) 
2.6 Scherversuche * 
Als Grenzwert fiir das Versagen einer Lotstelle wird der allgemein anerkannte Abfall der Scherfes- ‚ei 
tigkeit auf 50% des Ausgangswertes im unbelasteten Zustand herangezogen. Bei diesem Wert wird 
davon ausgegangen, dass die Lötstelle durch Rissbildung dermaßen geschwächt ist, dass es bald 
zum elektrischen Versagen kommt[4]. An jeweils 5 Bauteilen wurden Scherversuche durchgeführt. . (i 
Lot Sn 96,5Ag3Cul,5 * Bi57Sn42Ag1 
Padgröße iA |B_ |C_ ıD JA 7 cop 
C0201 ' 100 89 | 89 89 k. V*. | 60 53 
RO201 64 ow lo low Im 83 
RI218 23 28 live lcvele Je 
cis | 33 govt Lives [os | 
Tabelle 2: Relative Scherfestigkeit in % nach 2000 Temperaturzyklen -40/+125°C oo 
*k. V.: kein Versuch 
Die Auswertung der Scherversuche ergibt, dass bei beiden Loten bei den kleinen Bauteilen nach ) 
2000 Temperaturzyklen bei allen Padgrößen es noch zu keinem elektrischen Versagen kommt. Bei sn 
den großen Bauteilen ist beim SAC- Lot bei Widerständen und Kondensatoren ein elektrisches Ver- fH 
sagen aufgrund thermischer Ermiidung zu erwarten. Ahnlich verhilt es sich bei den Widerstdnden y 
der Baugröße R1218 beim BSA-Lot. Hier kommt es zu einem vollständigen Ausfall mit einer rela- 
tiven Scherfestigkeit von nur noch 6% nach 2000 Temperaturzyklen. Bei den Kondensatoren mit 
großer Padfläche C und D ist die Funktionsfähigkeit noch vorhanden (Tabelle 2). X 
1 Zusammenfassung Lk 
Es wurde nachgewiesen, dass die Zuverlässigkeit von keramischen Komponenten stark von ihrer 
Größe beeinflusst wird. Durch die Unterschiede der Ausdehnungskoeffizienten von Keramik und 
FR4-Leiterplattenmaterial führt eine Temperaturwechselbeanspruchung bei großen keramischen 
Komponenten zum frühzeitigen Ermüdungsausfall der Lötstelle. Kleine keramische Komponenten ol 
(Baugröße 0201) sind bei gleichem Padlayout deutlich weniger stark vom Lotvolumen abhängig als 5 
größere keramische Komponenten [5]. 
Weil das BSA Lot weniger stark ermüdet, kann es bei kleinen Komponenten und auch bei größeren v 
Bauteilen mit zur Leiterplatte angepassten thermischen Ausdehnungsverhalten als alternatives Lot 
zum SAC-Lot verwendet werden. 
4 Literatur 
[11.[21,[31,[4],[5] Abschlussbericht AiF —Vorhaben 17.405N: Lotstellenzuverldssigkeit kritischer, 
keramischer Bauelemente
	        
Waiting...

Note to user

Dear user,

In response to current developments in the web technology used by the Goobi viewer, the software no longer supports your browser.

Please use one of the following browsers to display this page correctly.

Thank you.