Prakt. Met. Sonderband 47 (2015) 183
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SCHE dass be Grenzen der klassischen Materialographie und moderne Methoden
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Ver... Suisse Technology Partners AG, CH-8212 Neuhausen am Rheinfall
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Seep + I Einführung
Hochleistungswerkstoffe wie z.B. nanokristalline Metalle und Keramiken oder Verbundwerkstoffe
ermöglichen heute Anwendungen, die mit konventionellen Werkstoffen nicht möglich sind. So be-
sitzen beispielsweise nanokristalline Werkstoffe hohe Festigkeiten bei gleichzeitig akzeptablen
Bruchdehnungen sowie z.B. interessante magnetische Eigenschaften. Als Beispiel seien hier na-
nokristalline, reine Nickel-Folien genannt, welche ohne Legierungselemente eine Zugfestigkeit von
1300 MPa sowie eine Streckgrenze von bis zu 1100 MPa erreichen (Integran Technologies Inc.,
ten und Folien- Mississauga, ON, Canada, http://www.integran.com). Solche hochfeste nanokristalline Folien wer-
Acer verbunden den über galvanische Prozesse hergestellt und finden in Schutzwesten oder als Lötschablonen ihren
eine oxidische Einsatz. Langfaserverstirkte Aluminiumdrihte werden fiir Hochspannungsleitungen verwendet,
lervorgegangen welche eine besser Leitfähigkeit besitzen und dennoch die hohe Festigkeit von Stahldrihten haben
end der Enthin- (3M Center, St. Paul, MN, USA). Die Mikrostrukturen dieser Hochleistungswerkstoffe unterschei-
it west Mange! den sich teilweise stark von konventionellen Werkstoffen.
m Laminat aus- Wihrend vor einigen Jahren diesen Werkstoffe noch vor allem akademisches Interesse zukam, wer-
des Schichtver- den diese heute mehr und mehr industriell eingesetzt. Solange diese Werkstoffe im akademischen
iergleichend zu Umfeld beforscht wurden, waren auch akademische Methoden, wie z.B. Transmissionselektronen-
hott mikroskopie, zu deren Charakterisierung verfiigbar. Im industriellen Umfeld wird es notwendig,
„warden. Die ökonomische und einfach handhabbare Charakterisierungsmethoden einzusetzen, welche es erlau-
ben, die notwendigen Untersuchungen zur Qualitätssicherung und Weiterentwicklung zu bewerk-
stelligen.
In diesem Manuskript stellen wir die Untersuchung von drei Werkstoffen mittels klassischer Me-
tallographie sowie mittels Electron BackScatter Diffraction (EBSD) vor.
2 Die EBSD-Methoden
wre (04.06.2015)
on A. Miche Die EBSD-System haben in den letzten 20 Jahren eine enorme Entwicklung durchgemacht und ihre
Co Verbreitung hat stark zugenommen. Die Methode basiert auf der Elektronenbeugung. Dabei wird
A, Michaels der Elektronenstrahl in einem flachen Winkel über die Probenoberfläche gerastert. Das dabei
entstehende Beugungsbild wird von einer hochempfindlichen Kamera registriert, über verschiedene
- bildanalytische Algorithmen bearbeitet und mittels vorhandener Datenbanken und der vom
0. S500 Benutzer ausgewählten Phasenliste indexiert. Das Resultat ist an jedem Punkt die Phase sowie die
a 54 kristallographische Orientierung. Heutige Systeme erledigen diese Arbeit mit einer hohen Effizienz
4.405% von mehreren hundert Punkten pro Sekunde. Die Elektronen, welche die Beugungsbilder
BoE verursachen, stammen aus einem oberflächennahen Bereich von 10-30 nm. Diese Tatsache stellt
MH besondere Anforderungen an die Probenpräparation. Es ist von grosser Wichtigkeit,
verformungsfreie Schliffe herzustellen. Diese Herausforderung ist allerdings auch eine Chance.