Full text: Fortschritte in der Metallographie

248 Praokt. Met. Sonderband 47 (2015) 
ein Ubersichtspektrum fiir die automatische Frequenzverfolgung und im Anschluss ein Spektrum in 
der Nihe des Admittanz-Maximums aufgenommen werden. 
3.3 Sekundir-Ionen-Massenspektromertie (SIMS) 
SIMS-Analysen wurden mit einem Sekundir-Ionen-Massenspekrometer (Hiden Analytical Ldt., © 
Großbritannien) durchgeführt, welches mit Quadrupol-Filter ausgestattet ist. Als Primärionenstrahl 
wurden Ar’-Ionen eingesetzt. Die Anregungsspannung betrug 5 keV. Die Tiefenachse wurde 
nachträglich aus der Vermessung der Kratertiefe unter der Annahme einer konstanten Sputterrate 
abgeschätzt. 
4 Ergebnisse und Diskussion 
4.1 TFC-Messungen 
Die Dicke der Zinn-Schichten ist in Tabelle 1 angegeben. Die TFC-Messungen an den Proben 1 bis 
3 ergaben dabei, dass nach dem ersten Aufschmelzvorgang keine weiteren Frequenzsprünge mehr 
gemessen wurden. Der elektrische Widerstand des Resonators ändert sich zudem ebenfalls am 
Schmelzpunkt der Zinn-Schichten. N 
Tabelle 1. Dicke der Zinn-Schichten I } 2 
Resonator Dicke der Zinn Schicht/ pm pM 
. Profilometer-Messung Berechnung nach Sauerbrey-Glg. ; 
Probe 1 0,72 0,69 : 
Probe 2 1,38 1,02 
Probe 3 1,83 1,42 
Probe 4 2.83 2.28 
Probe 5 147 » 75 
Fiir die Proben 4 und 5 mit Schichtdicken von 2,2 bzw. 3,8 pm dagegen wurden Frequenzspriinge 
gemessen, die deutlich größer sind als es gemäß den Literaturwerten nach [8] zu erwarten wäre. 
Abbildung 4 zeigt, dass der Frequenzsprung bei diesen Proben mit zunehmender Anzahl an 
Aufschmelzvorgängen tendenziell abnimmt. 
Smet 1.024 
a oo 5 Aufschmerien 1.022] —— 1Aufschmelzen 
4 Aufschmezlen 4,020.1 1" 2 Aufschmelzen 
0.9980 5 Aufschmezlen 10184 | 3 Aisinaan 
6 Aufschmezlen - 
7 Aufschmezien 1.016- 5 Aufschmelzen 
5 0,9985 So chmezien 1014 - RB Aufschmelz- - 
i 4,012 
3 : 0.9580 ® 1,004 
- 1.002 
0,8975 1,000 4 
0,998 ; 
0.9970 Leer pr pT BER | N rer pr 
120 130 140 150 180 170 180 180 200 210 220 230 50 160 170 180 190 20 210 220 230 
Temperatur/ °C Temperatur‘ °C 
Abbildung 4. Frequenzsprünge aller gemessenen Aufschmelzvorgänge der Proben 6 (links) und 7 
(rechts). Der Resonanzfrequenzverlauf ist auf die Resonanzfrequenz bei Raumtemperatur normiert.
	        
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