Prakt. Met. Sonderband 50 (2016) 95 
6. Schleifen der Probenscheibe auf die gewiinschte Dicke, 
ebenfalls mit verfiigbaren speziellen Haltevorrichtungen 
den mechanischen (Abbildung 5). Der Andruck muss sehr gleichmäßig 
sind im Gegensatz aufgebracht werden. Auch hier kann meist auf eine 
piele sollen dies Politur verzichtet werden. 
7 Abdeckung Probe mit einem Deckglas. Sind metallische 
urch zu hohe Werkstoffe im Auflicht zu untersuchen muss auf ein 
oder ungeniigende Deckglas verzichtet werden. 
> durch Abbildung 5: Diinnschliffhalter mit Probe 
Einbett- und auf Glasobiekttriger (MicroKern, Berlin) 
endeten Klebern 
Die wesentlichen Unterschiede zur Anschlifftechnik miissen beachtet werden: 
> der polymeren 
rt sowohl beim Es ist eine definierte Schliffdicke zu erzielen. die in der Regel zwischen 10-30um liegt. Der Abtrag 
iff zu besonderer jeder Schleifstufe muss geplant sein, um mit der 
eifdrucks und der letzten Bearbeitungsstufe die gewiinschte Qualität, 
das heißt Schliffdicke und Oberfldchengiite, zu 
erzielen. Die Dicke des aufgebrachten Klebers ist 
zu berücksichtigen. Die Gefahr des Ablösens der 
Probe führt zu ihrem Totalverlust beim Präparieren. 
Es besteht die Gefahr einer Keilbildung 
(Abbildung 6), die sich beim Trennen oder 
Herstellung von . Anschleifen der Probe bilden kann. 
‘nur wenige Abbildung 6: Probenkeil nach Trennen, sowie Unterschiedliche Dicken und die oben genannte 
benöti gt, um mit Ablösung der Probe durch ungenügendes Aufpressen Gefahr des Ablösens ist die Folge. 
räten zu arbeiten. 
Präparationslabore Je nach Aufgabenstellungen und Werkstoffe sowie den vorhandenen Mikroskopen, kann bei der 
en. Grundsätzlich Dünnschliffherstellung oft auf eine Polierreihe verzichtet werden. Gute Ergebnisse sind bereits mit 
chritte notwendig einer Feinschliffstufe von 800er (22um) bzw. 
1000er (181m) Korn zu erzielen. Damit wird der 
rennen. Dabei ist zeitliche Aufwand deutlich begrenzt. 
1g, einem geringen 
ub zu achten. Werden Verbundwerkstoffe, z.B mit metallischen 
robe mit einem Phasen (Abbildung 7), sowohl fiir Auf- als auch 
; eine thermische für die Durchlichtmikroskopie untersucht, ist 
: Schädigung unbedingt eine Politur durchzuführen. Simultane 
Mikroskopie für Auf- und Durchlichtmikroskopie 
rursacht. ist damit möglich. Eine Probenabdeckung erfolgt 
ıd für eine bessere nicht. Ist eine gleichzeitige Bearbeitung der 
ılichen Gläser. Die Phasen nicht möglich z.B. durch 
zeführt, die nach Abbildung 7: Kupfer-Zinn-Kunststoffverbund Härteunter schiede, muß jeweils ein An- und 
“ ist auf mögliche mit Durchlicht und Auflicht Hellfeld, simultan Dünnschliff hergestellt werden. 
Probe. Spezielle 
nen sind hierfür