96  Prakt. Met. Sonderband 50 (2016) 
4 Mikroskopie: Nur im Dr 
Natürlich wird für die Mikroskopie an Dünnschliffen ein Durchlichtmikroskop benötigt. Spezielle 
Anforderungen für eine einfache Untersuchung bestehen jedoch nicht. Je nach Schliffdicke und 
geforderten Anwendungen kommen die Objektive 4x bis 63x zum Einsatz. Die Nutzung von 
Polarisatoren mit Lambda Kompensator ist zu 
empfehlen, die für die Kunststoff-Matrix 
Untersuchungen zusätzliche Informationen zeigen. Viele 
der verwendeten Fotos wurden mit diesem Verfahren 
durchgeführt. Für qualitativ hochwertige Anwendungen 
sind Objektive mit Deckglaskorrektur für abgedeckte 
Proben (Deckglas 0,17mm) einzusetzen (Abbildung 8). 
Für qualitative und quantitative 
Polarisationsmikroskopie sind spezielle  Gerite 
verfügbar. Abbildung 
Kompensat' 
Abbildung 8: GfK Probe mit (links) und ohne 
(rechts) Deckglas, Polarisationskontrast. 
Lambda Kompensator 
6 Weiter 
5 Gefügeuntersuchungen 
Für die Qualitätssicherung und Schadensanalyse mit Hilfe der mikroskopischen Kontrolle sind 
folgende Untersuchungen im Auflicht und Durchlicht am Beispiel von CfK- und GfK- 
Verbundwerkstoffen möglich: 
Faseruntersuchung (An- und Dünnschliff): 
* Habitus (Länge, Durchmesser, Form), 
(Abbildung 9) 
* Deformation (Glasfaser Spannung) 
* Wicklung, Webung (CfK) 
* Rissbildung (Herstellung, Gebrauch) . 
; Abbildung 
* Verteilung, Lambda Kc 
* Orientierung Verunreinig 
* Anteil ausgebildet 
Faserbündr 
Abbildung 9: Carbon Fasern im Auflicht Hellfeld