114 Prakt. Met. Sonderband 52 (2018)
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Abb.:11: Übersicht FIB- Schnitt Abb.: 12: Detail FIB- Schnitt durch Abb.:13: Übersicht Sinterschicht nach BTR:
durch Sinterschicht [4] Sinterschicht [4] lonenpolitur [3]
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4 Zusammenfassung wee
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Die Präparation von Sinterverbindungen zur Darstellung der Porosität in Leistungsmodulen ist Ls
nicht immer eindeutig. Zwei Präparationsmethoden, welche zu guten Ergebnissen führen, wurden N ur
vorgestellt. Gibt es trotzdem Zweifel an der Darstellung des Gefüges, eignet sich die Bearbeitung Mor n
der Probe mit Ionenstrahlen. Der Nachteil hierbei ist, dass nur kleine Bereiche dargestellt werden Boe”
konnen. Deswegen ist eine klassische metallographische Probenpriparation zur Beurteilung der lize
gesamten Fügezone bei Leistungsmodulen notwendig und eine ergänzende Bearbeitung mit FIB Was WM
Präparation zu empfehlen, wenn man die wahre Porosität in der Silbersinterschicht untersuchen es
will. fers
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5 Literatur
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[1]Schmitt, G.; Ansteuerung von Hochvolt-IGBTs über optimierte Gatestromprofile, Disser-
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. . . von zahlr
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Boie, Fraunhofer ISIT, ‘ on
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FraunhoferIISB. 2012 figs an
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