180 Prakt. Met. Sonderband 52 (2018) 
Auftreten von Pile-Ups hervorgerufen werden. Des Weiteren fällt auf, dass die Werte für den 
E-Modul der hochverformten Proben in beiden Fällen signifikant über jenen des 
grobkörnigen Materials liegen. Dies deckt sich mit den Untersuchungen von Hu et al. [6] an 
Cu, wonach feinkörnige Gefüge ein stärkeres Materialaufwurfverhalten zeigen. 
In Gleichung (1) ist ersichtlich, dass sich dieses Verhalten auch direkt auf die gemessene 
Härte auswirkt. Aus diesem Grund wurde aus den Literaturwerten für den E-Modul die 
anfänglich erwähnte Pile-Up Korrektur nach Joslin & Oliver [7] durchgeführt. Die 
berechneten wahren Härtewerte Hr-ucor sind in Tabelle 1 aufgeführt sowie in Bild 1b) 
dargestellt. 
Tabelle 1: Ergebnisse der Nanoindentationsversuche: Eo-p und Ho-p nach Oliver & Pharr 
[1], h/hmax und Hp-u corr die Pile-Up korrigierten Härtewerte nach Joslin & Oliver [7]. Die 
Werte entsprechen dem Mittelwert zwischen 1500 und 2000 nm Eindringtiefe. . 
Material Eo-r [GPa] Hor [GPa] hilhmax Hp. corr [GPa] 
AA2024 (cg) 86.4 + 0.7 1.91+0.02 0.896+0.002 1.39 + 0.01 
AA2024 (ufg) 89.0 + 0.5 3.36 + 0.04 0.824 + 0.001 2.31 + 0.03 
AA5182 (cg) 83.117 0.96 + 0.03 0.944 + 0.001 0.72 £0.02 
AA5182 (ufg) 86.6 + 0.6 270+0.03 0.845%+0.002 1.85 + 0.02 
3.2 Optische Untersuchung des Pile-Up Verhaltens 
in Bild 2 sind je eine LIMI- und REM-Aufnahme eines reprasentativen Eindrucks pro 
untersuchtem Material und Zustand dargestellt. Besonders auffällig ist in den LIMI 
Aufnahmen die deutlich unterschiedliche Form der Eindrücke zwischen Cg- und ufg-Gefüge. 
Während sich die Pile-Ups im cg-Zustand über mehr als 10 um normal zur Seitenkante der 
Indents erstrecken, zeigen jene im ufg-Gefüge ein stark lokalisiertes, kreissegmentförmiges 
Erscheinungsbild. Auch scheint die kleinere Korngröße bei cg-AA5182 im Vergleich zu cg- 
AA2024 einen Einfluss auf die gleichmäßige Ausbildung der Materialaufwerfungen zu 
haben. 
AA2024 cg AA2024 ufg AA5182 cg AA5182 ufg Te 
= 33 Vera 
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; m REM 
Bild 2: LIMI- sowie REM-Aufnahmen von jeweils einem Eindruck pro untersuchtem | 
Material. Die Aufnahmen im LIMI wurden mit differentiellem Interferenzkontrast (C-DIC), Ma 
jene im REM mit dem Sekundarelektronendetektor aufgenommen. Wes 
Ava 
Die REM-Aufnahmen dienen zum Vermessen der tatsächlichen Kontaktfidche Arem nach 14518 
dem Entlasten, diese ist in Abschnitt 3.3 den Ergebnissen aus den Nanoindentations- HR