Prakt. Met. Sonderband 52 (2018) 199
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Linienprofil 2
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moe Entfernung [um]
Abbildung 3: C-AFM Messung an der Probe mit globularen Phasen: a) Topographie, b)
vOQTADNIE resultierende Stromkarte, c) und d) Profile für die in a) und b) eingezeichneten Linien.
2 Text)
a) 20 Spannungs-Sequenz b) _ Lore alpha-Phase
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Keihung hat * beta-Phase dq gamma-Phase
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Statistik. und Spannung [V] Spannung [V]
nungsrampe or
wo met il Abbildung 4: Ergebnisse der lokalen Strom-Spannungs-Kurven: a) Zeitlicher Verlauf der
n Konb angelegten Spannungssequenzen, b-d) resultierende Strom-Spannungskurven für die drei
N intermetallischen Phasen (für Details siehe Text).
sführt wurden
Gren bereits
eren werden
ose 3. ZUSAMMENFASSUNG
werden. All . |
ung kam i Durch Kombination von AFM, KPFM und C-AFM Messungen konnten Unterschiede in den
ef stud elektrischen Eigenschaften intermetallischer Phasen einer y-TiAl-Basislegierung mit der
yon Zusammensetzung Ti-43,5Al-4Nb-1Mo-0,1B nachgewiesen werden. Dieser Sachverhalt