Full text: Theorie der Mikrometer und der mikrometrischen Messungen am Himmel

Lamelle unter 4 »°- 
33 
mithin 
dagegen 
Y = (1 + 4 (“y-) S¿M¿ 1 
ft'_ ft + ft ' — . 
a — a = wie oben, 
= 15 cos 8, 
ft' — ft-(ft/ — ft/ 
2 
Für 8 ' — 8 = 10' erreicht y folgende Werthe: bei 8 0 = 70° 0"*03, 8 0 = 75 0 
0"*04, 8 0 = 80° 0"*08, so dass es innerhalb dieser Grenzen noch vernachlässigt 
werden kann. 
Berücksichtigung der Eigenbewegung. 
Hat das zu bestimmende Object eine eigene Bewegung, so erhalten die nach 
den obigen Ausdrücken berechneten Unterschiede die Incremente 
A/ , . A 8 ' „ ft/ — 0 ’ 
A(a — o) = -jy sec 8 0 ^ 
A ( 8 ' — 8 ) = 15 A a' cos ô 0 
ft/ — ft' 
wo Aa' (in Zeit-) und A 8 ' (in Bogensecunden) die Aenderungen der AR. und 
ft ' ft' 
der Deel, in der dem Factor —-—-—— zu Grunde liegenden Zeiteinheit sind und 
Jj 
ft I 
die hiernach verbesserten Coordinaten tür das Mittel der Zeiten: - 1 —-—- gelten. 
Einfluss der Refraction. 
Die Einwirkung der Refraction ist eine verschiedene, je nachdem die 
Lamelle mit der scheinbaren, d. h. der durch die Strahlenbrechung afficiften 
Richtung der täglichen Bewegung, oder mit der wahren Richtung derselben den 
Winkel von ± 45° einschliesst. Indem wir in dieser Hinsicht auf den bezüg 
lichen Abschnitt beim Positionsmikrometer verweisen, setzen wir hier zunächst 
voraus, dass die Lamelle oder der Faden nach dem wahren Parallel orientirt 
d. h. gegen den durch das Drehungscentrum gehenden Declinationskreis um 
db 45° geneigt sei. 
Sind wiederum a', 8 ', a, 8 , die wahren, a' + , 8 ' H- q\ a -+- 
15’ 1 * ’ ~ 1 15 
die mit Strahlenbrechung behafteten Oerter, so ergeben die Beobachtungen un 
mittelbar die beiden folgenden Gleichungen: 
15 
= ft’ — ft — yt> — (8 -+- ^)] sec ^ 8 0 -t- ^ ’2 ^ Lage I 
«' + ^ - («+ jl) = ftrftr + * [*'+ q /(«+ g r)]** (« 0 + La s e IL 
An die ohne Rücksicht auf Strahlenbrechung berechneten Werthe a' — a 
und 8 ’ — 8 hat man folglich die Verbesserungen anzubringen: 
A(a' — a) 
2.15 
(p 1 — P ■+■ P\ — P\) — 27Y5 W — 9 — (íV <?\)] sec K 
- 2A5 V« ». («• - «) 
Becker, Mikrometer und Mikrometermessungen.
	        
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