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Commission I
MICROTOPOGRAPHIE D'IMAGES PHOTOGRAPHIQUES
NOIR ET BLANC ET COULEUR
P. KOWALISKI
Laboratoires Kodak-Pathé, Vincennes
Introduction
La précision toujours croissante des mesures photogrammétriques pose périodique -
ment le problème de la contribution de chacun des éléments (objet, atmosphère, chambre de
prises de vues, optique, couche sensible), aux erreurs d'enregistrement final sur le matériau
photographique. Plus récemment on a trouvé dans la bibliographie des données numériques qui
rapprochent l'ordre de grandeur des détails enregistrés de celui de l'épaisseur des couches pho
tographiques, plus importante d'ailleurs sur plaques de verre que sur supports films. Suivant
la géométrie du système de restitution, il pourrait y avoir une source supplémentaire d'erreurs
systématiques en fonction de la distance du point considéré au centre de l'image, selon que cette
image se forme soit à la surface de la couche sensible, soit au contraire en profondeur ; dans
cette formation interviennent les conditions d'éclairement, la couleur de l'objet photographié et
la mise au point (fig. 1).
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EPAISSEUR DE
LA COUCHE
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FIG. 1
Les dimensions des détails les plus fins normalement exploités en photogrammétrie
sont à présent, en effet, de l'ordre de 0, 01 millimètre, valeur donnée comme correspondant à
la précision de l'ensemble du système de prise de vue par de nombreux auteurs. Ainsi Macdo
nald (l) indique comme diamètres des plus petits détails détectables, en fonction du pouvoir ré
solvant et du contraste de l'objet, des valeurs allant de 0, 004 mm à 0, 125 mm, avec une moyen
ne de 0, 033 mm ; Welander (2) donne comme limite des fréquences spatiales habituellement em
ployées en photographie aérienne 40 à 50 lignes par millimètre, ce qui correspond à des lar
geurs de traits de 0, 025 à 0, 020 mm ; David (3) fournit des limites de précision des chambres
photogrammétriques, dont l'ordre de grandeur de quelques microns, pour chacune des aberra
tions, prise séparément, semble démontrer l'inutilité de l'enregistrement photographique de
détails inférieurs à 10 microns, qui dépasserait la précision inhérente au système. Bonneval
[4] indique enfin pour la précision planimétrique, contrôlée par mesures sur le terrain, un or
dre de 10 à 15 microns à l'échelle du négatif. Ces valeurs se trouvent également confirmées
par Cruset [5j qui prend en considération tous les autres facteurs comme le voile atmosphéri
que, le filé, etc..