Bild 3. Geometrische Verhältnisse bei der Aufnahme 
Bild 4. Koordinatensystem auf dem Projektionstisch 
ergeben sich mit den Neigungskomponenten cp und co des Luft 
bildes und der Aufnahmebrennweite f a und Entzerrungsbrenn 
weite f e die während der Differentialentzerrung konstant 
bleibenden Einstellwerte nach den folgenden Formeln: 
cos v = cos cp • cos co (3) 
sm Va' = 
fa 
tan cp 
tan Xe — — 
sm co 
(4) 
(5) 
Die eingerahmten Formeln bezeichnen die wirklichen Ein 
stellwerte. v bedeutet die Neigung des Luftbildes, v a ' die Nei 
gung des Projektionstisches im Entzerrungsgerät und y. e die 
Kantung des Bildes gegenüber der Senkrechten zur Neigungs 
achse des Bildträgers im Entzerrungsgerät. 
Diese Werte können durch eine feste Programmierung ebenso 
wie die Daten der äußeren Orientierung im Analytical Plotter 
berechnet und dann im Entzerrungsgerät eingestellt werden. 
Die Differentialentzerrung wird jedoch erst dadurch möglich, 
daß in Abhängigkeit von den Geländehöhenunterschieden und 
den Lagekoordinaten x s und y s des Stereomodells die laufend 
veränderlichen Eingabewerte a', x e und y e und die Bildver 
schiebung e in das Entzerrungsgerät eingegeben werden. 
Die Zusammenhänge zwischen den vertikalen Abständen h 
des Projektionszentrums von den jeweiligen Modellpunkten 
und den Abständen a des Projektionsobjektivs von der 
Neigungsachse des Projektionstisches im Entzerrungsgerät 
wurden bereits in Formel (1) angegeben. Unter Berücksichti 
gung der Formel (3) und der bekannten Beziehung 
sin v a = 
(6) 
ergibt sich die Abhängigkeit zwischen a und h in folgender 
Form: 
° — fe (1 + 
/ h 2 —Jg 2 • sin 2 V ^ 
fa 2 —fe 2 ■ sin 2 i^ 
(7) 
Plotters durch ein besonderes Programm gelöst und der Wert 
a' über einen Digital-Analog-Wandler laufend auf die Spindel 
für die Vergrößerungseinstellung übertragen werden. 
Nun gilt es, noch den Zusammenhang zwischen den Lage 
koordinaten x s , y s des Stereomodells und den Lagekoordi 
naten x e , y e auf dem Projektionstisch des Entzerrungsgerätes 
zu untersuchen: 
Aus Bild 3 kann man erkennen, daß der Winkel 90 ° •— x e 
in der Bildebene durch Projektion auf eine Horizontalebene 
in den Winkel x s übergeht. Dies ist der Winkel, den die Pro 
jektion der Nadirdistanz mit der x s -Achse des Koordinaten 
systems im Analytical Plotter bildet. Aus Bild 3 lassen sich 
folgende Formeln für x s ableiten: 
cot x e tan co 
tan Xg = = — 
cos v sm cp 
(8) 
Im Entzerrungsgerät SEG I fällt aber die Richtung der Nadir 
distanz mit der y g -Achse zusammen. Überträgt man das 
Koordinatensystem des Analytical Plotters auf den Projek 
tionstisch des Entzerrungsgerätes, dann sind beide um den 
Winkel 90°—x s gegeneinander verdreht, und die Koordi 
natenanfangspunkte liegen um A s voneinander entfernt, 
wenn man annimmt, daß im Analytical Plotter der winkel- 
treue Punkt und im Entzerrungsgerät der Durchstoßpunkt 
der optischen Achse durch den Projektionstisch den jeweiligen 
Koordinatenursprung bilden sollen. 
Die Lagekoordinaten x e und y e auf dem Projektionstisch er 
geben sich dann nach Bild 4 aus den Koordinaten x s , y s 
des Analytical Plotters durch die folgende Koordinatentrans 
formation : 
cos x e 
x e = X,. • sm x. — y. • cos x. = x. y. • sm cp ■ cos co 
s s s ss cos vs -r 
(9) 
y e = X s - cos X s + y s ■ sin X s 
cos x e 
As = 
sin cpeos co + 
+ Vi 
COS Cp 
(10) 
Die Ableitung der Größe A s kann an Hand des Bildes 5 durch 
geführt werden. 
/¿ 2 — fe 
As = 
fa 2 —fe 2 ■ s»n 2 r 
(H) 
Diese Formel kann in dem schnellen Rechner des Analytical 
Wenn dafür gesorgt wird, daß auch diese Formeln (9), (10) 
5