Bild 6. Geometrische Zusammenhänge zwischen Bildebene 
und Projektionsebene im Entzerrungsgerät mit zwei Neigungs 
achsen 
An Hand von cp und co und der Formel (6) kann man den 
Winkel x berechnen, den die Hauptvertikalebene mit der 
Vertikalebene durch die :r e -Achse einnimmt. 
tan x q = 
sin co 
tan <p ■ cos Va m 
(15) 
Die Neigungskomponenten für den Projektionstisch ergeben 
sich dann nach folgenden Formeln: 
tan Va’cp = tan Va' • cos x q 
(16) 
tan v U ’ = tan Va’ • sin x m 
Ü) r 
(17) 
Plotter einen anderen Winkel, nämlich x s , einschließt. Er 
kann nach der Formel (8) gefunden werden: 
tan co 
tan x„ = 
sin cp 
(8) 
Die richtige Zuordnung des Koordinatensystems x s , y s zum 
Koordinatensystem x e , y e kann durch eine Koordinatentrans 
formation erreicht werden. 
An Hand des Bildes 7 können die notwendigen Transforma 
tionsformeln abgeleitet werden. 
AM V = 9t B— it 9 e (19) 
X e = X • COS Ax q — y • sin A — A s ■ cos (x + A xJ) (20) 
y e = x g • sin A Xy + y s • cos A X v — A s ■ sin (x g + Ax (p ) (21) 
As kann wieder nach Formel (11) berechnet werden. 
Für die Berechnung des Winkels, den die Spur der Haupt 
vertikalebene auf der Projektionsebene mit der Spur der 
Vertikalebene durch die x e -Achse des Entzerrungsgeräts bildet, 
ergibt sich folgende Formel: 
tan x qq = tan Xy • cos v a '- (18) 
An Hand des Bildes 3 wurde bereits festgestellt, daß im Stereo- 
modell die Spur der Hauptvertikalebene in der Geländeebene 
mit der a: s -Achse des Koordinatensystems im Analytical 
Die Vergrößerungssteuerung für a in Abhängigkeit von den 
Geländehöhenunterschieden wird durch die bereits angegebene 
Formel (7) gewährleistet. Da das Entzerrungsgerät SEG V 
mit einer automatischen Fluchtpunktsteuerung ausgerüstet 
ist, braucht die Perspektivbedingung nicht besonders rechne 
risch berücksichtigt zu werden. 
Zur Differentialentzerrung mit dem Analytical Plotter und 
dem Entzerrungsgerät SEG V müssen also folgende Voraus 
setzungen geschaffen werden: 
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