DöHLER, WOLFERTS, Neue Prüfverfahren für Anlagen zur digitalen Dacenausgabe (1)
beginnen. Für die Aufstellung von Prüfplänen gibt es verschiedene Möglichkeiten wie z. B.: 1. kon-
stante; 2. zwischen festgelegten Grenzen beliebig wechselnde und 3. im Vorzeichen alternierende
Schrittzahl-Folgen.
Prüfplàne lassen sich in Rechenanlagen aufstellen und direkt als Lochstreifen ausgeben. Ein
Programm wurde für den Fall 2 hergestellt, wobei beliebige Schrittzahlen nach einem Zufalls-
generator festgelegt werden.
HL. Zuverlässigkeit
Die Funktionssicherheit technischer Systeme wird im allgemeinen als Zuverlässigkeit be-
zeichnet [9]. Man kann den Grad der Zuverlässigkeit durch den Zeitabstand der in einem Bauteil,
einer Baugruppe oder einem System auftretenden Störungen ausdrücken, die zu Ausfällen oder
Fehlern führen. Dabei ist zwischen der mittleren Lebensdauer bei nicht reparatur- oder aus-
tauschfähigen Elementen und der mittleren Funktionsdauer bei solchen Einheiten zu unter-
scheiden, die repariert oder ersetzt werden können*). Für den Fall, daß einzelne Bauteile eines Sy-
stems repariert oder ausgetauscht werden können, wollen wir für den mittleren Zeitabstand zwischen
auftretenden Störungen oder Fehlern den Ausdruck „mittlerer Fehlerabstand‘“ (MFA),
ausgedrückt in Betriebsstunden, setzen.
Über den Grad der Zuverlässigkeit von Registrier-Anlagen liegen bisher in der Literatur
keine Angaben vor. Der Wunsch nach völliger Störfreiheit läßt sich nach dem derzeitigen Stand der
Technik nur mit sehr hohem technischen Aufwand verwirklichen. Eine theoretische Vorhersage
der zu erwartenden Zuverlässigkeit von Systemen setzt die Kenntnis der Zuverlässigkeit der einzelnen
Bauteile und ihres Zusammenwirkens voraus. Für den mathematischen Ansatz ist es wichtig, das
Verteilungsgesetz der Ausfälle einzelner Bauteile zu kennen. Sofern die einzelnen Bauteile seriell
geschaltet sind, ist die Zuverlässigkeit des Systems Rs (t) = Rı (t) - Re (t)... Ra (t). Kann für die
Komponenten-Zuverlässigkeit das Exponentialgesetz R = e-*^^ (t — Zeitspanne zwischen den
Ausfällen; 2 = Ausfallrate) angesetzt werden, ergibt sich die Zuverlässigkeit eines Systems zu:
R.(t) —- ee" eh... ee oct A DieAusfallrate eines Systems 4, ist dann gleich
der Summe der Ausfallraten seiner Komponenten.
Man kann den oben definierten MFA auch durch empirische Beobachtungen bestimmen. Den
Benutzern von Registrier-Anlagen wird empfohlen, über auftretende Stórungen, ihre Art und ihren
Zeitabstand (in Betriebsstunden) Buch zu führen. Zu diesem Zweck ist es wünschenswert, wenn
auch Registrier-Anlagen mit Betriebsstundenzàáhlern ausgestattet würden.
An unserem Institut traten bei der wechselweise an zwei MeDgerüten verwendeten Ecomat-Anlage
von Zeiss in einem Zeitraum von 27 Monaten 8 kleinere Stórungen (vornehmlich an der elektrischen
Schreibmaschine) auf. Das entspricht bei einer durchschnittlichen monatlichen Betriebszeit von
100,0 Std. einem MFA von etwa 340 Std. Im gleichen Zeitraum ergaben sich an den Zàáhlwerken
eines Meßgerätes 4 größere Störungen, die jeweils zu längeren Ausfallzeiten wegen Reparatur führten.
Das entspricht einem MFA von 405 Std. bei durchschnittlich 60 Std. Betriebszeit/Monat. Diese
Angaben dürfen nicht verallgemeinert werden. Wegen des relativ kurzen Zeitraumes und sehr unter-
schiedlicher Arbeitsbedingungen sind diese Werte sicher nicht repräsentativ.
Über größere Zeiträume festgestellte Erhebungen ermöglichen, ein für gewisse Anlagen plausibles
Zuverlässigkeitsmaß festzulegen, das eine Bewertung einzelner Anlagen zuläßt. Den Konstruk-
teuren können diese Angaben nützliches Material zur Verbesserung der Systeme liefern.
Die Störanfälligkeit kann vermindert werden durch: a) Erhöhung der Zuverlässigkeit
der Bauelemente, b) Anwendung redundanter Schalt- oder Steuermaßnahmen, c) vorsorglichen
Austausch von Bauteilen vor Ablauf ihrer durchschnittlichen Lebensdauer. Alle Maßnahmen er-
höhen den technischen Aufwand und damit die Kosten.
Wünsche an die Hersteller sind: a) dem Benutzer ausführliche Systembeschreibungen
sowie b) eine Liste von Fehlern und Störungen mit Angabe ihrer wahrscheinlichen Ursachen in
1) In der amerikanischen Literatur spricht man von mean time to failure (MTTF) bzw. mean time between failure (MTBF).
97 BuL 2/1963