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Differenzen wie Vertikalparallaxen z. B. gleichzeitig mit diesen Untersuch
ungen zu messen. Es dürfte ganz bestimmt einen gewissen Zusammanhang
zwischen Vertikalparallaxen gemessen und ausgeglichen, und diesen Fehler
quellen, die Sie hier besprochen haben, bestehen. Natürlich wenn man Diffe
renzen misst, alle Vertikalparallaxen sind ja Differenzen, dann können gewisse
Fehlerquellen verschwinden. Allerdings dürfte man in dieser Weise eine gute
Möglichkeit haben, die Begrenzung eines Modelles in praktischer Arbeit zu be
stimmen, d. h. wenn man in einem Modell die Vertikalparallaxen in 9 oder 15
oder 25 Punkten misst und dann in die Ausgleichformel die Resultate einsetzt,
dann bekommt man was man den mittleren Gewichtseinheitsfehler nennt und
das ist gerade die Begrenzung, die die meisten, obwohl nicht alle, Fehlerquellen
enthält.
Ich möchte also fragen, ob Sie noch Versuche da durchgeführt haben, die
Vertikalparallaxen zu messen oder zu versuchen beabsichtigen. Dann auf eine
Kleinigkeit: man dürfte mit so einfachen Instrumenten wie Spiegel-Stereoskop
und Mess-Mikrometer diese Differenzen messen können, worüber Sie gesprochen
haben, nähmlich wenn man eine Platte genau aufmisst und dann die anderen
stereoskopisch gegenüber misst, dürfte man eine sehr scharfe ebensowie be
queme Methode haben, um die absoluten Fehler auch zu erhalten. Es wäre
auch interessant zu hören, ob Sie diese Methode versucht haben.
M. M. Ahrend: Zu Ihrer zweiten Frage. Ich habe die Vertikalparallaxen
nicht unmittelbar gemessen, sondern sind sämtliche Messungen an einen Uni
versal Messmikroskop absolut gemessen worden. Ich habe aber ganze Bild
streifen durchgemessen und konnte jetzt aus den absoluten Messungen die
Vertikalparallaxen ableiten, und habe dann mittelst dieser Vertikalparallaxen
eine Irrtiimerkorrelation über die Filme rechnerisch durchgeführt. Ich habe
vorher eine Zahl genannt je nach den Aufnahmeverhältnissen, sagen wir 1,6,
und in dieser Zahl 1,6 sind diese Vertikalparallaxen enthalten. Grundsätzlich
ist es so, oder war es so bei meinen Versuchen, wenn die Fehler besonders auf
den Filmen klein waren, dann waren sie unregelmässig, d. h. man konnte keine
Ähnlichkeit zwischen den benachbarten Bildern feststellen. Habe ich aber sehr
ungünstige Aufnahmeverhältnisse, z. B. die Aufnahmen bei —35° C, dann zeig
ten benachbarte Bilder gleiche Fehlererscheinungen. Diese gleichen Fehlerer
scheinungen bedeuten aber nicht dass die Vertikalparallaxen kleiner werden.
Aus dem Grunde weil sich immer entgegengesetzte Modellbereiche überdecken.
Deckt sich ja nicht das Modell 100 %, so deckt sich immer etwa 50 %, 60 %,
der Bereiche, d. h. in diesen Fällen werden die Vertikalparallaxen bei Vorliegen
einer Ähnlichkeit grösser als in dem Fall wo man eine völlige Unregelmässigkeit
zwischen den benachbarten Bildern hat.
Répondant ä Tun des nombreux congressistes intervenant dans le Congrés
sans dire son nom et sans remplir de »speaker’s card», M. Ahrend déclare:
»Zu Ihrer ersten Frage über die Steigung der Genauigkeit, ich hatte vornehm
lich Platten der Firma Gevaert, und diese Platten waren, wenn sie besonders
günstig waren, von einer Ebenheit von 20 Mikrons, bei einer Stärke von 2 mm.
Wenn man die Platten verstärkt auf 6 mm, (ich habe Platten aufgemessen von
6 mm und von 10 mm) so ist es zunächst auch nicht selbstverständlich, dass
sie diese hohe Ebenheit von 1 bis 2 /i haben. Ausserordentlich schwer ist es
Platten von 6 mm Stärke mit einer Ebenheit von 2 ¡j, herzustellen. Es hängt
von der Grösse ab. Die Schicht wird bei den Platten von 2 mm Stärke derart,
dass allein durch den Entwicklungsvorgang und den anschliessenden Trock
nungsvorgang, Unebenheiten von mir beobachtet wurden von bis zu 50 //. Ich
habe mit 6 mm Platten nur 2 Versuche gemacht, ich weiss nicht wie weit sie
allgemeine Bedeutung haben, und diese 6 mm Platten gaben einen Einfluss der
Schicht, der in Gegend liegt von 1 bis 2 Hundertstel.
Ihre zweite Frage zu den Auswertegeräten. Ich hatte eingesetzt eine Auswerte-
genauigkeit von ±5 ju. Ich habe vorhin schon betont, dass diese Werte selbst
