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verständlich nicht korrekt sind und mit jedem Auswertegerät unter jeder an 
deren Bedingung und mit einem anderen Auswerter, anders erhalten werden, 
können. Ich möchte hierzu bemerken, dass ich also Versuche gemacht habe, 
und hierin enthalten sind Ungenauigkeiten der Einfassung, und alle Fehler 
quellen, die bis auf dem optischen Anteil auf das Gerät kommen. Ich will nicht 
behaupten, dass diese Werte nicht genauer zu bekommen sind, ich hielte es 
aber nicht für angebracht, ganz besonders extrem günstige Werte anzusetzen 
und damit eine Bedingung zu schaffen, die bei praktischen Auswertearbeiten 
kaum zu erreichen werden wird. Die Bemerkung, dass bei einer analytischen 
x\rbeit und unter Ausschaltung des Auswertegerätes, nur Verwendung eines 
Komparators diese vielen Fehler ausschaltet und damit das Verhältnis im ganzen 
günstiger wird, das ist richtig, ich stimme es zu. 
Le Prof. B. Hattert demande à M. Ahrend si l’on a, concurrement avec les mesures sous dépres 
sion, effectué des mesures de parallaxes verticales. On pourrait en le faisant sur 9, 15 ou 25 points 
d'une image plastique, avoir »l’erreur sur l’unité de poids» et la limite des sources d’erreur corres 
pondant au procédé. A-t-on comparé, si on a fait ces recherches, les parallaxes verticales aux erreurs 
dûes à la dépression? Cela devrait pouvoir se faire avec un appareil simple: stéréoscope à miroirs 
avec mesureur de parallaxes. M. M. Ahrend répond qu’il n’a pas mesuré les parallaxes verticales 
de façon indépendante. Les mesures au microscope ayant porté sur des bandes entières, on peut 
en déduire les parallaxes, et de celles-ci, une corrélation des erreurs. Les parallaxes verticales sont 
incluses dans le nombre donné (1.6). Dans le cas de très mauvaises conditions (—35° par ex.) on 
pourrait avoir de fortes déformations régulières, presque identiques d’une photographie à l’autre, 
et cette identité n’empêcherait pas les parallaxes d’être très fortes. 
Answering a member of the audience who, like many others, did not give his name and fill a 
speaker’s card, Mr. Ahrend says: 
En ce qui concerne l’augmentation de la précision, les plaques Gevaert de 2 mm ont une 
planéité à 20 microns près. Il est très difficile, en augmentant l’épaisseur jusqu’à 6 mm, d’obtenir 
une planéité à 2 /u. Or, le développement de la couche et son séchage provoquent des défauts de 
l’ordre de 50 microns. Les essais faits sur 2 plaques de 6 mm ont donné de tels défauts, mais plus 
faibles (10 à 20 microns). Il n’y a eu que 2 essais. Deuxième question: la précision des appareils de 
restitution. Le chiffre avancé de ± 5 /â est un ordre de grandeur particulier aux conditions d’expé 
rience. La remarque sur la meilleure précision que l’on obtiendrait en éliminant l’appareil de 
restitution et en procédant à un travail analytique à partir de données obtenues au comparateur 
est valable. 
M. J. Cruset: Quand on parle de la planéité des plaques, il faut que Ton 
précise bien s’il s’agit de la distance entre le creux le plus profond et la bosse 
la plus saillante, exprimée sous la forme d'une planéité de tant de microns, ou 
d'écarts de ces mêmes points par rapport à un plan moyen, exprimés sous la 
forme + ou — tant de microns. Lorsqu’on entend parler de plaques d’une pla 
néité de 25 microns, dans une discussion, dans un article ou dans du courrier, 
on ne sait jamais si l’on veut parler de -f- ou — 25 ou de + ou — 12.5. Le photo- 
grammètre doit également résoudre la question suivante: est-ce l’écart maxi 
mum entre points extrêmes, pouvant être éloignés sur la plaque qui l’inté 
resse le plus, ou bien est-ce une variation locale et rapide, une sorte de gradient 
de la planéité? 
Mr. Cruset states that in connection with flatness of plates, it is necessary to precise whether 
the distance between the deepest hole and the highest bump is to be expressed by a flatness of so 
many microns, or the distance from these points as compared to an average level, expressed in -j- or 
— so many microns. It is impossible to know, in a discussion on plates with a flatness of 25 
microns, whether-f or — 25, or + or—12.5. A photogrammetrist also has to answer the following 
question: is he mainly interested in the maximum difference between extreme points which may 
be far away from each other on the plate, or in quick localized variations, a sort of flatness 
gradient? 
Mr. B. J. Attwell: I should like to ask Herr Ahrend something about his 
work on films. Unfortunately I have been unable to study the English trans 
lation of his paper: so the question may already be answered for me, but I 
would like to know, whether in his work, he has used cut film or he has done 
his measurements on a roll of film. We have found, that distortion measure 
ments on cut film are useful as a control for the manufacturer to check varia 
tions from batch to batch. But for the photogrammetrist it is necessary to