24 STEREOPHOTOGRAMMETRIE IN DER MIKROSKOPIE, AUTHOR'S PRESENTATION 
vielleicht die Verhältnisse charakterisieren will, 
dann ist es so, dass wir beim Elektronenmikro- 
skop eine sehr grosse Schärfentiefe, einen sehr 
grossen Bereich der Schärfentiefe vorfinden. 
Dieser grosse Bereich der Schärfentiefe gestat- 
tet natürlich, den Abbildungsmasstab sehr weit 
hinauf zu treiben. Es ist nun grundsätzlich noch 
hinzuzufügen, dass wir beim Elektronenmikro- 
skop, wie schon die vor zwanzig Jahren durch- 
geführten Untersuchungen von Dr Burkhardt 
zeigen, dass man es dort mit einer, zumindest 
in weitgehender Annäherung bestehenden, 
Parallelprojektion zu tun hat. Ganz einfach 
charakterisiert, liegen die Dinge so: es wird ein 
Parallelstrahlenbündel ausgesendet, durchsetzt 
das Objekt, und dieses Parallelstrahlenbündel 
wird dann durch die elektromagnetischen Lin- 
sen gleichsam auseinandergebogen, und auf 
diese Art und Weise wird die Vergrösserung er- 
reicht. Wenn man nun etwa den Normalfall, wie 
wir ihn von der terrestrischen Photogrammetrie 
her kennen, auf das Elektronenmikroskop an- 
wenden wollte, dann bekämen wir natürlich kein 
Stereobild. Man hätte einfach zwei identische 
Parallelprojektionen des Objektes vor sich. 
Daher führt man sogenannte Konvergenzauf- 
nahmen durch, also zwei Aufnahmen des Ob- 
jektes, die unter einem bestimmten Winkel zu 
einander geneigt sind. Betrachtet man die so 
erhaltenen Parallelprojektionen unter dem 
Mikroskop, unter dem Stereoskop, dann ver- 
mitteln diese auch wieder einen Raumeindruck, 
wobei es allerdings nicht möglich ist, ein raum- 
freies Modell zu erhalten, weil wir doch mit 
einem zentralperspektivischen Bündel betrach- 
ten. Das Problem wäre nun die Ausmessung 
solcher Stereotyp-Paare, wie wir sie beim Elek- 
tronenmikroskop gewinnen. Die geometrischen 
Grundlagen sind sehr einfach: es sind zwei 
Parallelprojektionen, die unter einem bestimm- 
ten Winkel entstehen, man kann sehr leicht die 
Beziehungen zwischen der Lage der Bildpunkte 
und der Lage des zugeordneten Raumpunktes 
gewinnen, und damit stünde eigentlich nichts im 
Wege, diese Stereobildpaare des Elektronen- 
mikroskops photogrammetrisch auszuwerten. 
Die Probleme, die dabei auftreten, liegen aber 
auf einer etwas anderen Ebene. 
Es ist nämlich beim Elektronenmikroskop, 
wenn wir uns vielleicht etwas flüchtig so aus- 
drücken wollen, die Projektierung der beiden 
Bilder nicht streng bekannt, und ausserdem 
gibt es kleine Verdrehungen und Vergrösse- 
rungsänderungen zwischen den beiden Abbil- 
dungen. Ob als Letzteres, ist dazu zu ergänzen, 
dass die Bestimmung des Konvergenzwinkels 
der beiden Aufnahmen hin und wieder auf ge- 
wisse Schwierigkeiten stösst. Man findet also 
ein Projektierungsproblem, so können wir es 
leicht nennen, vor, wenn man die beiden Bilde- 
benen in eine Ebene ausbreitet; dann müssen, 
wie wir es auch von der Luftbildmessung her 
gewohnt sind, die Vertikalparallaxen verschwin- 
den, zugeordnete Punkte müssen auf Geraden 
Z = konstant liegen. Die Mittel, um das zu 
erreichen, sind zwei Verschiebungen der beiden 
Bilder in den Bildebenen, zwei Drehungen und 
zwei Masstabsreduktionen. Nun sind diese Ope- 
rationen wohl miteinander verbunden. Man 
kann das ganze Problem einschränken auf eine 
Verschiebung in der Z-Richtung etwa des rech- 
ten Bildes auf zwei Verdrehungen und auf eine 
Masstabsänderung eines der beiden Bilder. 
Durch diese vier Operationen gelingt es, ein 
parallaxfreies Modell zu finden und zwar sind 
diese Operationen, wie wir ausdrücklich hervor- 
heben wollen, unabhängig vom Konvergenz- 
winkel. Man kann, wenn man diese Bilder 
orientiert hat, nun einen beliebigen Konvergenz- 
winkel einführen, dann erhält man noch immer 
ein parallaxfreies Modell, jedoch erleidet das 
Modell, wenn man einen unrichtigen Konver- 
genzwinkel einführt, affine Verzerrungen, und 
nachdem die Konvergenzwinkel relativ klein 
sind, einige Grade, so wirken sich natürlich Un- 
sicherheiten in den Konvergenzwinkeln sehr 
stark auf das Modell aus. Das Problem, das sich 
hier ergibt, ist dann die Bestimmung, die exakte 
oder, sagen wir zumindest ausreichende, Be- 
stimmung des Konvergenzwinkels. In meinem 
Institut sind seit einem Jahr derartige Versuche 
ausgeführt worden, und diese Versuche haben 
durch den Rat eines erfahrenen Elektronen- 
mikroskopikers eine ganz eigenartige Richtung 
genommen. Wir haben als Testobjekt, also 
gleichsam als Passpunktfeld, Kristalle verwen- 
det, und zwar Kristalle von streng würfliger 
Struktur, Magnesium Oxyd. Diese Kristalle kón- 
nen in allen móglichen Gróssen prápariert wer- 
den und, nachdem man nun bei dieser würfe- 
ligen Struktur die Verháltnisse der Seiten usw 
zu einander kennt, kann man nachher den ver- 
wendeten  Konvergenzwinkel  rekonstruieren, 
indem man ebea den Konvergenzwinkel variiert 
so lange, bis die vorgegebenen Streckenverhált- 
nisse in einem Würfel tatsáchlich ihre Werte er- 
reichen, und damit ist das Problem der Bestim- 
mung des Konvergenzwinkels einigermassen 
gelóst. 
Es wird Sie vielleicht noch interessieren, 
welche Leistungen man von diesem Verfahren 
erwarten kann. Man muss vorausschicken, dass 
die Schärfe elektronenmikroskopischer Bilder 
nicht dieselbe ist wie etwa die Schärfe einer 
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