I 
| 
= = 
  
848 
Polaristrobometer 804— 805. 
Presbyopie 207. 
Prismen und Prismensyteme 151 
u.f.; geradsichtige 169; nach 
RUTHERFURD 169:; fir 
Spectralapparate 397— 403. 
Projektionssyteme 211. 
Protuberanzen und Sonnenflecken 
448—450. 
Pupillen 172. 
R 
Rechtläufigkeit der 
48. 
Reelle Büschel 20. 
Reflexion, regelmüssige 18; dif- 
fuse 18. 
Reflexionswinkel 22. 
Reflexionsvermógen von Metallen 
824, 
Reflexionsgesetze 742—783; I. 
partielle Reflexion 745 bis 
771; 2) falls beide Medien 
krystallinisch 745; b) falls 
ein Medium isotrop 745 bis 
749; c) falls beide isotrop 
749 — 756; d) bei einer oder 
mehreren planparallelen 
Platten 756—761; e) Modi- 
fikation derselben durch 
Oberflüchenschichten 761 bis 
271; . Il. . "Totalreflexion 
771— 783; a) an optisch ein- 
axigen Krystallen 774— 775; 
b) an optisch zweiaxigen 
Krystallen 775—777; c) an 
isotropen Medien 777—779; 
d) an sehr dünnen Lamel- 
len 780— "783. 
Refractionsgesetz 15 20. | 
Refractionsvermögen 329 u. f. 
Rotationspolarisation 783—805; 
Theorie derselben 784—795; 
Beobachtungen 795—803; 
a) an zweiaxigen Krystallen 
795—-796 ; b) an einaxigen 
Krystallen 796—802; c) an 
isotropen Kórpern 802 — 806. 
Abbildung 
  
  
Namenregister. 
Rücklüufigkeit einer Abbildung 
48. 
S 
Saccharimeter 804—805. 
Sagittalschnitt 84. 
Scintillation 384— 390. 
Schiefe Elementarbüschel 82 u. f. 
Schnellste Ankunft, Princip der 
28. 
Semibilisatoren 496. 
Sinusconvergenz 115 u. f. 
Sonnenflecken u. Protuberanzen 
448—450. 
Spectrum, secundäres 144 u. f; 
Ausdehuung d. S. 161 u. f; 
Reinheit d. S. 164; Hellig- 
keit d. S. 167, Entstehung 
d. Sp. 419—429; Bezie- 
hungen einzelner Linien in 
einem Spectrum 429—438; 
Beziehungen verschiedener 
Spectren 438 — 443; Sonnen- 
spectrum 443 — 445. 
Spectralanalyse 390 — 450; Beob- 
achtung 413— 418; Apparate 
394— 413. 
Sphaerometer 278. 
Spiegelteleskope 275. 
Spiegelversuche von FRESNEL 
$23— 533; 539—540; von 
MICHELSON 538 539; von 
LLOYD 541—542. 
Stauroscop 729. 
Stehende Lichtwellen 583— 586. 
Strahl, Construction des gebro- 
chenen 67. 
Strahlenaxen 697. 
Strahlenbrechung, astronomische 
356 — 369;  terrestrische 
369—382. 
Strahlenfläche 694. 
Streifender Eintritt 300. 
T 
Tangentialschnitt 84. 
Telecentrische Systeme 181. 
Telephotographie 221. 
Teleskopische 
58 59- 
Thermoluminescenz 487. 
Tiefenvergrósserung 47. 
Totalreflexion 24; Methode der 
Abbildung 43 
T. 309 -u. f; Theorie d. 
T. 771—783 (siehe Re- 
flexionsgesetze). 
Totalreflektometer 312 318 u.f. 
Transversalitit d. Lichtschwin- 
gungen 636. 
Triboluminescenz 487. 
'Trockensysteme 259. 
U 
Uebercorrection 103. 
Ultrarothe Strahlung 414—417. 
Ultraviolette S. 417—418. 
Umkehrbarkeit d.Strahlenwege23. 
Unabhingigkeitsprincip 15. 
Undeutlichkeit 112. 
Undulationstheorie 623 u. f. 
Unstetigkeit einer Abbildung 43. 
Unter-Correction 103. 
Unterscheidungsvermógen des 
  
Auges 97. 
V 
Vergrösserung a) Longitudinal- 
47; b) Lateral- 47. 
Vergrósserungskraft (objektive 
Vergrösserung) 176 u. f. 
Verschlechterung d. Bildes 105. 
Vertheilung dioptrischer Wirkun- 
gen 247 248. 
Verzerrung des Bildes 126. 
Virtuelle Büschel 20. 
w 
Wellenfliche 694. 
Wolbung d. Bildes 124 u. f. 
Z 
Zeichenapparate 289, 306. 
Zerlegung d. Mikroskops 242 u. f. 
Zerstreuungskreis 103. 
| Zurückkehrender Strahl, Methode 
des 307. 
  
Namenregister. 
(Die Zahlen geben die Seiten an.) 
A 
ABBE, geometrische Theorie der 
optischen Abbildung 37 — 66; 
Strahlenbegrenzung 170 bis 
203; Begriff des Aplanatis- 
mus 118; chromatische Dif- 
ferenz der sphürischen Aber- 
ration 149; apochromatische | 
Systeme 150 238 260; Iris, | 
Eintritts-Austrittspupille 172; | 
Prüfung der Sinusconvergenz | 
  
175; Vergrosserungswirkung 
178; mikrometrische Mes- 
sung mittelst optischer Bil- 
der 181; Bedeutung der 
Apertur 185 u. f.; Focustiefe 
186; Helligkeit 
Tubuslänge 228; Vorzüge 
des zusammengesetzten Mi- 
kroskopes 230; Strahlengang 
und Strahlenbegrenzung im 
optischer | 
Bilder 196 198 u. f.; optische | 
| Mikroskop 231 u. f.; diop- 
trische Leistungen von Ob- 
jektiv und Ocular 237 u. f; 
schematische Zerlegung des 
Mikroskops 242 u. f.; Ver- 
theilung der dioptrischen 
Wirkungen auf Objektiv und 
Ocular 247 u. f.; Einführung 
der homogenen Immersion 
260; Condensoren 262; 
Brennebenenbestimmung