ises
dex
von
ver-
rart,
der
ler-
der
so
von
des
ull-
elle
10
/OI-
ing
ing
ing
ch,
ing
eil-
jen
1ei-
Ing
nte
ere
les
'en
die
en
in
en
las
o
Nonius, Ablesemikroskop. 299
des Auges eine kleine Parallaxe entstehen. Meist wird der Nonius durch eine
über demselben angebrachte Lupe gelesen, welche die Intervalle wesentlich ver-
gróssert und dadurch die Schätzung der Coincidenz erleichtert, aber auch die
Verschiedenheit der Ebenen der beiden Theilungen besonders fühlbar macht.
Die Lupe muss daher, namentlich wenn der Nonius eine gróssere Linge besitzt,
stets sorgfültig über den abzulesenden 'lheilstrich gebracht werden, zu welchem
Zwecke sie an einem längeren Arme drehbar ist.
Im Falle, dass einer gewissen Stellung des Intrumentes eine gewisse Lesung
entsprechen soll (z. B. für die Zenitstellung eines Passageninstrumentes, Universal-
instrumentes, Meridiankreises die Lesung 0) ist der Arm, an welchem der Nonius
befestigt ist, etwas verstellbar (z. B. mittels schlitzförmigen Oeffnungen für die
ihn befestigenden Schrauben); zur feineren Correction aber ist der Nullpunkt
dadurch verstellbar, dass der Nonius an dem Arme zwischen den Spitzen zweier
Correctionsschrauben (vergl. die Fig. 368) ruht, was auch den Vortheil hat, dass
er wenn nöthig (z. B. behufs Reinigung oder beim Umlegen des Instrumentes
u. S. W.) zurückgeschlagen werden kann.
Zur Erzielung der nóthigen Genauigkeit muss untersucht werden, ob z + 1
'Theilstriche des Nonius wirklich gleich z Theilstrichen der Kreistheilung sind.
Da diese Untersuchung ebenso wie die entsprechende Correction im wesent-
lichen mutatis mutandis mit der bei dem Ablesemikroskop erforderlichen identisch
ist, so wird das folgende für diese Zwecke genügen.
Das Ablesemikroskop gewidhrt eine viel grössere Genauigkeit dadurch,
dass das Intervall der Kreistheilung beliebig vergróssert werden kann, und die
Stellung einer festen Marke gegen zwei Theilstriche des Kreises durch ein
Schraubenmikrometer sehr genau bestimmt werden kann.
Das Objectiv eines Mikroskopes sei so gegen die Theilung eines Kreises
gerichtet, dass die Entfernung des Objectives von der Theilung grósser als die
einfache und kleiner als die doppelte Brennweite
des Objectivs ist; dann giebt dieses von dem Inter-
valle a? (Fig. 369) jener Theilstriche des Kreises ein
reelles, vergrôssertes Bild 44.5. Ebenso entsteht
von einem Indexstrich x ein Bild X, und man kann
durch eine in der Ebene von AB bewegliche
Marke (Fadenkreuz, ein einfacher oder Doppelfaden,
der parallel zur Richtung der Theilstriche a, 5, x
gespannt ist), die Stellung des Bildes X gegen 45
finden. Die Ordnungsnummer des Theilstriches a
selbst kann unter dem Mikroskop nicht gelesen
werden; da man aber bei den Winkelmessungen
stets die Differenz zweier Lesungen zu nehmen hat, E
z. B. bei Horizontalwinkelmessungen die Differenz
der Lesungen auf die beiden Objecte, bei Hóhen- A^
messungen die Differenz der Lesungen bei direkter N
und reflektirter Beobachtung oder bei der Beob- eo
achtung vor und nach dem Durchschlagen des Fern: (A. 369.)
rohres, oder bei der Beobachtung am Meridian-
kreise die Lesungen für die Einstellungen auf den Stern und das Nadir u. s. w.),
so wird man den Index / an einer beliebigen Stelle des Kreises anbringen
kónnen. Zu diesem Zwecke dient bei beweglichem Kreise ein in der oben be-
schriebenen Art verstellbarer Indexstrich, der so gestellt wird, dass er mit einem