Elektronen von der jeweils vorliegenden Atomart oder durch Reliefunterschiede zwischen Um 
den verschiedenen Gefügebestandteilen ermöglicht. Während im ersten Fall ein normal Inf 
polierter Anschliff zur Untersuchung gelangt, muß im zweiten Fall in der Regel eine geeig- pfla 
nete Tiefätzung zur Herstellung der Reliefunterschiede angewandt werden. Ein Beispiel für 23. 
die Ausnützung des Materialkontrastes ist in den Figs. 1a und b wiedergegeben. Es handelt 
sich um Gefügeausschnitte aus dem Querschliff einer oberflächlich korrodierten Gasturbinen- Der 
schaufel aus Nimonic 80 A. Der in den Brenngasen enthaltene Schwefel hat zu einem und 
Korrosionsangriff längs der Korngrenzen durch Bildung von Chromsulfiden und dadurch fläc 
bedingte lokale Chromverarmung geführt“. Durch Reaktionen der Brenngase und Verbren- selb 
nungsprodukte mit dem Schaufelmaterial erfolgte außerdem eine Aufkohlung, wobei Fig 
besonders im Korninnern Chromkarbide ausgeschieden wurden..Das Vorliegen der zwei aus 
verschiedenen Typen von Reaktionsprodukten wird durch die Kontrastabstufung im Raster- opt 
elektronenbild deutlich angezeigt (Fig. 1a, Sulfide dunkel, Karbide hell). Eine noch bessere jed« 
Unterscheidungsmöglichkeit stellt allerdings die Gefügeentwicklung durch Aufdampfen einer wie 
dünnen Interferenzschicht aus Zinkselenid® und anschließende Untersuchung am Licht- Teil 
mikroskop dar (Fig. 1b), wobei sich die einzelnen Gefügebestandteile farblich unterscheiden, Tat 
was in der Schwarz-Weißwiedergabe von Fig. 1b nicht so deutlich zum Ausdruck kommt. 
In den Figs. 1c und d sind Gefügeausschnitte einer Chrombasis-Legierung mit eutektischen 23 
Chromkarbiden vom Typ M„,3C6 wiedergegeben. Die rasterelektronenmikroskopische Weı 
Aufnahme (Fig. 1c) vermittelt einen Einblick in den räumlichen Aufbau der Karbid- No: 
eutektika, der bei lichtmikroskopischer Betrachtung erst durch eine größere Serie von der 
sukzessiven Anschliffen wie in Fig. 1d oder durch Röntgen-Stereo-Mikroradiographie zu Der 
erhalten wäre®. 
In ] 
Sph 
2.2 Verschlieißuntersuchungen glic 
Verschleißvorgänge führen in der Regel zur Bildung von Aufrauhungen der Werkstückober- (vgl 
fläche, zu deren Untersuchung die elektronenmikroskopischen Methoden auf Grund ihrer erk 
Tiefenschärfe sehr geeignet sind. kör 
Die auf der Arbeitsfläche einer Klammer aus Vergütungsstahl 32CrMoV 12 10 im Laufe der auc 
Betriebsbeanspruchung entstandenen Materialausbrüche (pitting) erscheinen unter dem 
Lichtmikroskop schon bei relativ schwacher Vergrößerung nur noch als dunkle, zweidimen- 2.3. 
sionale Flecken (Fig. 2a). Das Rasterelektronenmikroskop läßt dagegen auch bei mehrfach We: 
stärkerer Vergrößerung den dreidimensionalen Charakter dieser Beschädigungen erkennen ben 
(Fig. 2b). An den zum Teil flach ausgebildeten seitlichen „Abhängen‘“ konnten mit Hilfe von Tre 
zweistufigen Triafol-Kohle-Abdrücken im Durchstrahlungselektronenmikroskop deutliche spr. 
Anzeichen von Materialermüdung nachgewiesen werden (Fig. 2c). Es dürfte sich bei den fläc 
Klemmflächenausbrüchen somit um einen Fall von Ermüdungsverschleiß handeln, wie er in Fre 
ähnlicher Form auch bei der Rollreibung auftritt. fläc 
Fig 
2,3 Bruchflächenuntersuchungen um! 
Die Abklärung der Ursache von Betriebsbrüchen wird durch mikroskopische Untersuchungen wei 
oft wesentlich erleichtert. Der Einsatz des Elektronenmikroskopes für mikrofraktographische Bet 
158