Am Kohlereplika von Fig. 5c sind nur vereinzelte Anzeichen von Ausscheidungen zu Cor 
beobachten, die Rasterelektronenmikroskop-Aufnahme in Fig. 5b liefert jedoch durch die the 
Sichtbarmachung einer Vielzahl von feinen Teilchen die Erklärung für das Vorliegen der 
duktilen Brucheinleitung. Auf Grund detaillierter Untersuchungen® dürfte es sich um Am 
Teilchen der Cu3z Al-Phase handeln. , 
surf 
2.3.4 Ermüdungsbruch SE 
plas 
Schwingende Beanspruchungen mit kritischer Spannungsamplitude führen durch lokal „Ste 
begrenzte plastische Wechselverformung zur Bildung von submikroskopischen Poren, die sich surf 
bei weiterer Beanspruchung zu Mikrorissen vereinigen. Die Ausbreitung der Anrisse Scan 
beschränkt sich auf die jeweilige Zugperiode, was zur Bildung einer charakteristischen has 
Streifung auf der Bruchfläche führt. surf 
Die Figs. 6a und c geben die Bruchausbildung eines ferritisch-perlitischen Gefüges aus Stahl how 
Ck 45 nach Wechselbeanspruchung 0, = 0pw + 60 % wieder? . Die Ermüdungsstreifen treten reso 
am direkten Kohleabdruck (Fig. 6c) wesentlich klarer als am Rasterbild (Fig. 6a) hervor, in tl 
während die Zerklüftung der Bruchfläche nur im Rasterelektronenmikroskop sichtbar wird. thus 
Ähnliche Beobachtungen gelten auch für die Bruchfläche eines ferritisch-martensitischen The 
Mischgefüges aus dem gleichen Stahl in den Figs. 6b und d. Die nach dem Passieren der aboı 
Rißfront im weichen Ferrit durch schrittweise Fortbewegung von harten Karbidteilchen tiati 
während der abwechselnden Rißerweiterung und -verengung entstandenen raupenspur- 
ähnlichen Eindrücke fielen beim Betrachten des Kohleabdruckes sofort auf (Fig. 6d). Im . 
Rasterelektronenmikroskop konnten sie nur bei geeigneter Kippung der Probe nachgewiesen 
werden (Bildmitte von Fig. 6b). N 
3. Zusammenfassung ° e 
Unter den für die vorliegende Arbeit eingesetzten Geräten zur Untersuchung von verhält- 3 s 
nismäßig rauhen Oberflächen verfügt das Rasterelektronenmikroskop über den größten © 
Anwendungsbereich, da es‘bei hervorragender Tiefenschärfe bedeutende Variationsmöglich- 
keiten in der Vergrößerung bietet. Besonders augenfällig ist der plastische Gesamteindruck 
der im Rasterelektronenmikroskop aufgenommenen Bilder und die gute Erkennbarkeit von 
mehr oder weniger senkrecht zur Oberfläche verlaufenden „Spalten“ und „Absätzen“. 
Hervorzuheben ist auch die Übersichtlichkeit eines verhältnismäßig großen Oberflächen- 
bereiches im Rasterelektronenmikroskop und die Möglichkeit eines systematischen 
„Absuchens‘. Demgegenüber bietet die genaue Zuordnung eines im Durchstrahlungs- 
mikroskop betrachteten Abdruckes zu bestimmten Stellen der Originaloberfläche (Ziel- 
präparation) erhebliche Schwierigkeiten. Die Abdruckmethode kann jedoch für den 
Nachweis feinster Oberflächenstrukturen infolge des höheren Auflösungsvermögens des 
Durchstrahlungselektronenmikroskopes auch Vorteile bieten. Der Informationsgehalt eines 
Oberflächenabdruckes im Durchstrahlungsmikroskop hängt allerdings wesentlich von seiner 
Qualität und damit von der Geschicklichkeit des Laboranten ab. 
Für reine Gefügeuntersuchungen im Vergrößerungsbereich bis rd. 1 000fach steht das Licht- 
mikroskop nach wie vor an erster Stelle, da es die vielseitigen Möglichkeiten zur Phasen- 
differenzierung voll auszunützen gestattet. 
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