Teil der Arbeit werden die Ergebnisse, die an modifizierten Gußeisensorten mit di 
Lamellengraphit erhalten worden sind, ausführlicher beschrieben. un 
Fü 
2. Versuchsdurchführung Gı 
Bei der Emissionselektronenmikroskopie werden die durch Ionen- oder Elektronenbeschuß Gi 
bzw. durch thermische oder photoelektrische Anregung freiwerdenden Elektronen zur GC 
Abbildung von Objektoberflächen benutzt. die 
Die Möglichkeit der Objektbeobachtung bei erhöhten Temperaturen im Emissionsmikroskop die 
legt einen Vergleich zum Hochtemperaturlichtmikroskop nahe. Bei der Hochtemperatur- kp 
mikroskopie beruht die Sichtbarmachung im wesentlichen auf dem Effekt des thermischen W 
Ätzens. Dagegen trägt bei der Emissionsmikroskopie nicht nur das geometrische CH 
Oberflächenprofil zum Bildkontrast bei, sondern es werden auch gewisse Materialkonstanten, Gi 
wie zum Beispiel die Austrittsarbeit bei thermischer und Photoemission oder der hc 
Sekundärelektronenkoeffizient bei Primarelektronenbeschuß, kontrastwirksam. Da diese Gi 
Materialkoeffizienten von der Zusammensetzung, dem Phasenzustand, der Orientierung und Er 
der Temperatur des Objekts abhängen, kann das Emissionsmikroskop in vielen Fällen mehr We 
Informationen liefern als das Hochtemperaturmikroskop. a 
Um die geplanten Untersuchungen durchführen zu können, verwendeten wir das M: 
Emissionsmikroskop der Optischen Werke Jena, das als Ausbaustufe zu einem normalen Gi 
Elektronenmikroskop entwickelt worden ist und das Durchstrahlungsgerät zu einem I 
elektronenoptischen Mehrzweckgerät ergänzt. Durch die Verwendung eines magnetischen W 
Objektivs in einem Serienemissionsmikroskop, durch die Beschränkung einiger Fehlermög- C} 
lichkeiten und die Verwendung eines Stigmators in diesem Gerät ist es möglich, bei Objekten Mr 
mit erforderlicher . Planheit die theoretische Grenze des Auflösungsvermögens von ze 
Emissionsmikroskopen,die mit 150 Ä angegeben wird, zu erreichen. D } 
Das Gerät ist in Fig. 1 zu sehen. Im Emissionskopfgehäuse, das im oberen Teil von Fig. 1 zu Ri 
sehen ist, sind die drei Strahler untergebracht, und zwar der Heizstrahler, der Ionenstrahler EC 
und der Elektronenstrahler. Die Strahler sind von außen mittels der Triebknöpfe verstell- 
und justierbar. W 
Sa 
3. Versuchswerkstoff N 
Wie erwähnt, sind die emissionselektronenmikroskopischen Untersuchungen an modifizier- Be 
ten Gußeisensorten mit Lamellengraphit vorgenommen worden. Es handelt sich um die im ur 
Meehanite-Verfahren hergestellten Gußeisensorten, die sich auf das A. F. Meehan erteilte UI 
Patent?° gründen, ein weiß gattiertes Gußeisen durch Zusatz eisenfreier Silizide in der nı 
Pfanne zu grauer Erstarrung zu bringen. Die laufende Beobachtung der Auswirkungen des In 
„Impfens‘“ von Gußeisenschmelzen führte dann zunächst zu dafür geeigneten zuverlässig ZU 
arbeitenden Schmelzöfen, aber auch zur Sicherung eines vorwiegend perlitischen A 
Grundgefüges bestimmter Graphitausbildung und damit zu einer Verbesserung der Ir 
Festigkeitseigenschaften und Verminderung der inneren Spannungen. Gleichmäßige Härte in V 
allen Querschnitten und eine außerordentliche Dichte sind neben anderen weit V 
hervorstechende Eigenschaften eines solchen Gußeisens. Es ist nicht verwunderlich, daß bei m 
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