16 G. Bartz, D. Wiskott, G. Weissenberg, Phys. 27 H. Bethge, H. Eggert, K. Herbold, IV. Int. 
Verh. 6 (1955) 19 Kongr. f. Elektronenmikroskopie I (1960) 217 
17 — IV. Int. Kongr. f. Elektronenmikroskopie I 28 R. Bernst, E.A. Soa, Jenaer Rundschau 5 
(1960) 20 (1969) 296 
18 — Optik 17 (1960) 135 29 J. Pirs, Proceedings of Second Annual Technical 
19 G. Mollenstedt, M. Keller, Radex Rdsch. 4/5 Meeting of IMS, San Francisco 1969 
(1956) 153 (1969) 259 
20 W. Bayh, Z. Phys. 151 (1958) 281 30 USA-Patent Nr. 1 499 068; vgl. Iron Age 117 
21 G. Möllenstedt, M. Keller, Radex Rdsch. 4/5 (1926) 1559/60; Gießerei 13 (1926) 538 
(1956) 153 31 E. Piwowarsky, Gießerei 40 (1953) 354 
22 H. Düker, Radex Rdsch. 7 (1960) 406 32 Lizenznehmer der Firma International 
23 H. Bethge, H. Eggert, K. Herbold, IV. Inter. Meehanite Metal Co. Limited, London — 
Kongr. Berlin I (1960) 217 Reigate 
24 HE. Boersch, Naturwiss. 30 (1942) 120 33 ASTM Standards, Part 3, Methods of Testing 
25 R. Panzer, Dissertation, TU Dresden (1959) Metals American Society for Testing Materials, 
26 E. A. Soa, Jenaer Jahrbuch 1963 II (1964) 428 Philadelphia 1958 
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