Full text: Fortschritte in der Metallographie

Mechanische und mikroskopısche Untersuchung von SiC-Whiskers 
A. OP HET VELD, J.D.B. VELDKAMP 
(Philips, Eindhoven) 
Von haar- und bandförmigen SiC-Whiskers, hergestellt nach zwei verschiedenen Verfahren, 
wurden Zugfestigkeit und Elastizitätsmodul mit Hilfe einfacher, selbst entworfener 
Apparaturen gemessen. Die Whiskers und deren Bruchfläche wurden mikroskopisch 
untersucht. Die Werte von Zugfestigkeit und Elastizitätsmodul werden diskutiert und die 
Werte der Zugfestigkeit in Zusammenhang gebracht mit einigen häufig vorkommenden 
Fehlern der Whiskers. 
(Ist bereits veröffentlicht: „Mechanical and Microscopical Investigation of SiC-Whiskers‘“, 
Fibre Science and Technology, 2 (1970) 269/281) 
Raster- 
en Ver- 
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