thermische Behandlungen hervorgerufen werden, gibt es Verfahren, die Messungen am WIC: 
mikroskopischen Objekt gestatten. Zu diesen Verfahren zählen zunächst die Mikrohärte- Wis: 
prüfung und die Korngrößenmessung, beides alte Hilfsmittel der Metallmikroskopie. Kan 
Als neueres Gerät wurde ein an das Mikroskop ansetzbares Mikrospektrophotometer die 
entwickelt, mit dem man die Reflexionseigenschaften von Gefügebestandteilen messen kann wer 
(Fig. 3). Ein typisches Anwendungsbeispiel ist das Studium heterogener Phasen, vor allem der 
die Identifizierung kleinster nichtmetallischer Einschlüsse in Metallen? . Da diese Einschlüsse befi 
oft nur einen Durchmesser von 1 um oder weniger haben, muß das Gerät zwei wesentliche auc} 
Bedingungen erfüllen: es muß Objektdetails bis zu 0,5 um isoliert messen können — bei 
kleineren Objekten wird durch das Auflösungsvermögen des Mikroskops eine Grenze gesetzt 
— und absolute Treffsicherheit besitzen. Beide Bedingungen sind durch das Konstruktions- 22 
prinzip des Mikrophotometers erfüllt; das vom Objekt her kommende Bild wird auf einen 
Schirm projiziert, der auswechselbare zentrale Meßblenden besitzt, durch die der Meßstrahl 2.2 
auf den Detektor (Photomultiplier) gelangt. Gleichzeitig wird dieser Schirm visuell In ; 
beobachtet, wobei man die Meßblende als schwarzen Punkt sieht. Zusammen mit der Roy 
Meßblende kann man im Einblick ein relativ großes Gesichtsfeld sehen, was für die rl 
Orientierung und für das Aufsuchen von Meßpunkten wichtig ist. Manchmal haben Dun 
verschiedene Gefügebestandteile sehr ähnliche Reflexionswerte; zur besseren Unterscheidung dur 
kann man mit Hilfe eines Interferenzverlauffilters das Reflexionsvermögen bei verschiedenen 
Wellenlängen messen. 22. 
Der neueste Trend auf dem Gebiet der Metallmikroskopie ist die automatische quantitative 
Auswertung von Gefügebildern“. Durch Adaptierung des automatischen Bildanalysengerätes In d 
„Quantimet 720‘ der Firma Image Analysing Computers Limited an das aufrechte Vor. 
Forschungsmikroskop „Zetopan‘“ und an das gestürzte Kameramikroskop „Me F 2“ wurde Zwe 
ein leistungsfähiges System geschaffen, das die Vorteile einer ausgeklügelten Elektronik mit ein 
denen eines wandlungsfähigen Forschungsmikroskops verbindet (Fig. 4). Das Quantimet 720 Obje 
kann auch an ein Epidiaskop angeschlossen werden. Dies ist dann von Vorteil, wenn man ein Obje 
Bildanalysengerät für mehrere Mikroskope verwenden will: an den Mikroskopen werden Ein 
beispielsweise Polaroidaufnahmen gemacht und dann am zentralen Bildanalysengerät ersch 
ausgewertet. Die Möglichkeiten des Quantimet 720 erstrecken sich nicht nur auf die genaue Tem 
Messung -von Flächenanteilen verschiedener Phasen, Korngrößen, Korngrößenverteilungen Mit 
und Formfaktoren; darüber hinaus verhindert eine eingebaute Logikeinheit Fehlresultate, die „Me 
zum Beispiel dadurch entstehen könnten, daß Körner teilweise aus dem abgegrenzten Oxy' 
Meßfeld herausragen oder daß Einlagerungen im Objekt eine komplizierte Form — durc 
beispielsweise die eines „X‘ — haben und daher ohne die Logikeinheit doppelt oder gerin 
mehrfach gezählt würden. Das Quantimet 720 besteht je nach Schwierigkeit der gestellten mess 
Aufgabe aus drei gestuften Systemen, wobei die Erweiterung auf das jeweilige System durch befir 
reines Hinzufügen von Bausteinen möglich ist. maxi 
Mit 
. durc! 
2.1.3. Dokumentation die } 
Neben den Kontrastverfahren zur reinen Beobachtung und den Meßverfahren zur natic 
quantitativen Auswertung von mikroskopischen Objekten ist die Dokumentation der dritte Magı 
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