Ein elektronisches Baukastensystem für den Gerätebau 
im metallkundlichen Labor 
GERHARD DÖRFLER 
(GMP Gesellschaft für physikalische Meßgeräte Ges.m.b.H., Wien) 
1. Einleitung 
In der Instrumentierung des metallkundlichen Labors hat sich in den letzten Jahren eine sehr 
starke Strukturwandlung vollzogen. Von der visuellen mikroskopischen Beobachtung von 
Gefügen, der manuellen Aufnahme von Abkühlungskurven und ähnlichen Tätigkeiten ist 
man auf Grund der intensiver werdenden Forschungstätigkeit und des Personalmangels 
immer stärker auf den Einsatz modernster elektronischer Mittel und auf die Datenauswer- 
tung und Steuerung durch Kleinprozeßrechner übergegangen. 
Bei extrem schnellen Abkühlversuchen werden beispielsweise von modernen Meßgeräten 
Tausende von Meßwerten pro Sekunde ausgespuckt; ein mikroskopisches Gefügebild kann 
heute in seiner Struktur in Sekunden bis Minuten vermessen werden. 
Dennoch besteht eine Diskrepanz zwischen den Bedürfnissen des individuellen metallkund- 
lichen Labors und der Serienproduktion des Geräteherstellers. In vielen Fällen sollen 
Meßwerterfassungsanlagen auf eine bestimmte Problemstellung speziell zugeschnitten sein; 
sehr häufig bereiten auch die Datenübernahme und die Datenspeicherung von den ver- 
schiedenartigsten Geräten her erhebliche Schwierigkeiten. 
2. Elektronisches Baukastensystem 
Im Folgenden soll daher ein Weg aufgezeigt werden, durch den auch der elektronisch nicht 
geübte Metallkundler die Möglichkeit hat, Meß- und Steueranlagen seinen Bedürfnissen 
gemäß zu entwerfen und auch zu realisieren, bzw. eine Problemstellung exakt zu definieren 
und dadurch die Verständigung zum Systemhersteller zu erleichtern. Die angeführten Vor- 
schläge und Lösungsmöglichkeiten basieren auf einem sehr flexiblen elektronischen Baustein- 
system, das in der Folge überblicksweise beschrieben werden soll. Vorerst erhebt sich jedoch 
die Frage, wie es möglich ist, aus einem bestehenden Baukastensystem beliebige Meß- und 
Steuersysteme aufzubauen. 
Zu diesem Zweck sollen die in Fig. 1 schematisch dargestellten beiden Systeme, die auf den 
ersten Blick zwei grundverschiedene Themenstellungen haben, betrachtet werden. Im 
System A (Fig. la) soll ein Analogwert integriert werden können und aus dem integrierten 
Wert eine Regelgröße abgeleitet werden, die auf das den Meßwert produzierende System 
zurückwirkt. In Fig. 1b hingegen handelt es sich um eine numerische Positionssteuerung, wie 
sie beispielsweise für die Positionierung eines Diffraktometers verwendet werden könnte. 
Obwohl es sich also um zwei relativ verschiedenartige Problemstellungen handelt, erkennt 
man sofort, daß eine große Anzahl von Funktionsgruppen, nämlich der gesamte Zähler-, 
Vergleichs- und Anzeigeteil völlig gleichartig aufgebaut ist. 
370