ıry beam 
bi gu ity” Primärstrahl 
incidence 
one. The | 
ymmetry 7 
which are Beugender 
1ses. Kristallbereich 
x - fe o der Probe 
y is given ZI m (Lage der 
n of the Elementarzelle) 
Liversity of Ebene des Fig. 1. Die 180°-Zweideutigkeit: Die gestrichelte 
anhıic P Beugungsbildes Lage der Elementarzelle des Kristalls geht aus der 
N v ch . ausgezogenen Lage durch Drehung um 180° um 
"Bu Hal Zn? den Primärstrahl P hervor (allgemeiner Fall eines 
BO Bl triklinen Gitters). Beide Lagen erzeugen jedoch 
) 5 (1971) dasselbe Beugungsbild (unten). 
18 (1968) 
Z. Metall- Probenfeste Bezugsrichtungen 
_ (z.B. Bildkanten ) 
Phys. 35 ah 
;tat. sol. 3 
tat. sol. 6 Ahrkılı Ah kl, 
Mag. 15 = hy kl. 
En | Fig. 2. Die zwei Fälle der 180°- 
TS ns Ak Zweideutigkeit für den Spezialfall 
; yS For d . FA des kubischen Gitters in dessen 
A) (1966) EP stereographischer Projektion (pro- 
. u = Würfelflächenpole benfestes Bezugssystem)2 
Ewald 
Kugel 
a) Beugungsbild: Die Reflexe der 
> einen Laue-Zone sind durch Kreu- 
ze, die der zweiten durch Kreise 
Or . gekennzeichnet 
(rn zz AL 
5 7 ns f b) „Seitenansicht“ von a), Schnitt 
NS Ü durch die Ewaldkugel2 
. Beugungsbild e 
Fig. 3. Ausnutzung der Reflexe 
zweier Laue-Zonen zur Gewin- 
nung der Eindeutigkeit15 
all T 
ra) (b) 
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